Торхов Н.А.1, Еремеев С.В.2
1ГНПП "НИИПП", Томск, Россия
2Сибирский физико-технический институт им. акад. В.Д. Кузнецова Томского государственного университета, Томск, Россия
Поступила в редакцию: 6 августа 1998 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 1999 г.
С использованием сканирующей туннельной электронной микроскопии проводилось изучение свойств поверхности эпитаксиальных слоев n-GaAs (100), обработанных в потоке атомарного водорода. Полученные результаты показали сильное влияние обработки в атомарном водороде на состоянии поверхности, заключающееся в травлении собственного оксида, микрополировке, стабилизации по отношению к щелочной среде (раствор диметилформамид: моноэтаноламин 1 : 3) и окислению, а также изменение структуры поверхности с образованием димеров. Обнаружено, что обработка в потоке атомарного водорода приводит к образованию тонкого (меньше 0.05 мкм), слабо проводящего приповерхностного слоя, возможно оказывающего значительное влияние на статические приборные характеристики диодов с барьером Шоттки.
- В.Л. Гуртовой, В.В. Дремов, В.А. Макаренко, С.Ю. Шиповал. ФТП, 29(10), 1888 (1995)
- J. Chevallier, M. Aucouturier. Ann. Rev. Mater. Sci., 18, 219 (1988)
- J.A. Schaefer, V. Persch, S. Stock, Th. Allihger, A. Goldmann. Europhys. Lett., 12(6), 563 (1990)
- A. Kishimoto, I. Suemuni, K. Hamaoka, T. Koui, Y. Honda, M. Yamanishi. Jpn. J. Appl. Phys., 29(10), 2273 (1990)
- L.M. Weeglels, T. Saitoh, H. Kanbe. Appl. Phys. Lett., 66(21), 2870 (1995)
- Э.М. Омельяновский, А.В. Пахомов, А.Я. Поляков, А.В. Говорков, О.М. Бородина, А.С. Брук. ФТП, 22(7), 1203 (1988)
- R.P.H. Chang, S. Darack. Appl. Phys. Lett., 38(11), 898 (1981)
- Z. Lu, M.T. Schmidt, D. Chen, R.M. Osgood, W.M. Holber, D.V. Podlesnik, J. Forster. Appl. Phys. Lett., 58(11), 1143 (1991)
- N. Watanabe, T. Nittono, H. Ito, N. Kondo, Y. Nanishi. J. Appl. Phys., 73(12), 8146 (1993)
- S.J. Pearton. J. Electron. Mater., 14a, 737 (1985)
- J.I. Pankove, M.A. Lampert, M.L. Tarng. Appl. Phys. Lett., 32(7), 439 (1978)
- J.I. Pankove, M.L. Tarng. Appl. Phys. Lett., 34(2), 156 (1979)
- S.J. Pearton, E.E. Haller, A.G. Elliot. Appl. Phys. Lett., 44(7), 684 (1984)
- C.H. Seager, D.S. Ginley, J.D. Zook. Appl. Phys. Lett., 36(10), 831 (1980)
- J.I. Hanoka, C.H. Seager, D.J. Sharp, J.K.G. Panitz. Appl. Phys. Lett., 42(7), 618 (1983)
- A. Paccagnella, A. Callegari, E. Latta, M. Gasser. Appl. Phys. Lett., 55(3), 259 (1989)
- U.K. Chakrabarti, S.J. Pearton, W.S. Hobson, J. Lopata, V. Swaminathan. Appl. Phys. Lett., 57(9), 887 (1990)
- В.Г. Божков, В.А. Кагадей, Н.А. Торхов. Изв. вузов. Физика, N 8, 115 (1997)
- В.В. Аристов, С.В. Ковешников, С.В. Носенко, Е.Б. Якимов, А.М. Сурма. Микроэлектроника, 24(3), 198 (1995)
- T. Hashizume, S. Heike, M.I. Lutwyche, S. Watanabe, K. Nakajima, T. Nishi, Y. Wada. Jpn. J. Appl. Phys., 35(8B), L 1085 (1996)
- Y.G. Wang, S. Ashok. J. Appl. Phys., 75(5), 2447 (1994)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.