Особенности поглощения в наноструктурах a-Si / ZrOx
Хохлов А.Ф.1, Чучмай И.А.1, Ершов А.В.1
1Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
Поступила в редакцию: 7 октября 1999 г.
Выставление онлайн: 18 февраля 2000 г.
Исследовано поведение спектров коэффициента поглощения alpha(homega) в области края фундаментального поглощения многослойных наноструктур a-Si / ZrOx, полученных испарением, при уменьшении толщины слоев аморфного кремния от 10 до 3 нм. Число периодов структур составляло от 7 до 14. Периодичность контролировалась методами малоугловой рентгеновской дифракции и сканирующей зондовой микроскопии. Обнаружены участки линейной зависимости alphahomega=f(homega) в спектрах коэффициента поглощения alpha(homega) и увеличение эффективной оптической щели при толщине слоев a-Si =<5 нм. Результат интерпретирован как проявление эффекта размерного квантования.
- J.P. Conde, V. Chu, D.S. Shen, S. Wagner. J. Appl. Phys., 75, 1638 (1994)
- Е.А. Виноградов, А.В. Заяц, Ф.А. Пудонин. ФТТ, 33, 197 (1991)
- А.Ф. Хохлов, А.В. Ершов, А.И. Машин, Ю.А. Мордвинова, Н.И. Машин. ФТП, 20, 1288 (1986)
- Д.Э. Форсайт, М.А. Малькольм, К.Б. Моулер. Машинные методы математических вычислений (М., Мир, 1980) [Пер. с англ.: G.E. Forsythe, M.A. Malcolm, C.B. Moler. Computer Methods for Mathematical Computations (Englewood Cliffs, N. J., 1977)]
- Н. Мотт, Э. Дэвис. Электронные процессы в некристаллических веществах (М., Мир, 1982). [Пер. с англ.: N.F. Mott, E.A. Davis. Electronic Processes in Non-Crystalline Materials (Clarendon Press, Oxford, 1979)]
- К. Хаттори, Т. Морри, Х. Окамото, Й. Хамакава. В кн.: Аморфный кремний и родственные материалы, под ред. Х. Фрицше (М., Мир, 1991) с. 443. [Пер. с англ.: Amorphous Silicon and Related Materials, ed by H. Fritzsche (Singapore--N. Y.--London--Hong Kong, World Scientific, 1989)].
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.