Вышедшие номера
Проверка применимости модели моновалентного дефекта для описания свойств комплекса вакансия--кислород в кремнии
Макаренко Л.Ф.1
1Белорусский государственный университет, Минск, Республика Беларусь
Поступила в редакцию: 9 февраля 2000 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2000 г.

Исследованы температурные зависимости концентрации носителей заряда в кристаллах кремния n-типа проводимости, выращенных по методу Чохральского и облученных гамма-квантами 60Co. Проведен анализ применимости модели моновалентного дефекта с уровнем вблизи Ec-0.17 эВ для описания свойств A-центра в кристаллах n-Si. Показано, что модель не согласуется с имеющимися экспериментальными данными. Высказано предположение, что A-центр имеет в верхней половине запрещенной зоны два уровня: акцепторный вблизи Ec-0.16 эВ и донорный вблизи Ec-0.20 эВ. Это предположение согласуется с данными, полученными с использованием магнитно-спектроскопических методов.