Искусственно анизотропный термоэлектрический материал с полупроводниковыми и сверхпроводящими слоями
Пшенай-Северин Д.А.1, Равич Ю.И.1, Ведерников М.В.2
1Санкт-Петербургский государственный технический университет, Санкт-Петербург, Россия
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 3 апреля 2000 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2000 г.
Произведен расчет термоэлектрических характеристик искусственно анизотропного материала, состоящего из полупроводниковых и сверхпроводящих слоев. Вычисляются поперечная термоэлектрическая добротность и чувствительность датчика малых тепловых потоков. Показано, что использование прослоек из высокотемпературного сверхпроводника существенно изменяет условия оптимизации геометрических параметров слоистой структуры (угла наклона слоев и отношения их толщин) по сравнению с нормальными проводниками. Термоэлектрическая добротность и чувствительность термоэлементов приготовленных из материала со сверхпроводящими прослойками, в 2-3 раза превышает соответствующие параметры структуры со слоями из металла.
- В.П. Бабин, Т.С. Гудкин, З.М. Дашевский, Л.Д. Дудкин, Е.К. Иорданишвили, В.И. Кайданов, Н.В. Коломоец, О.М. Нарва, Л.С. Стильбанс. ФТП, 8, 748 (1974)
- Д.М. Гельфгат, З.М. Дашевский, Л.Д. Дудкин, Н.В. Коломоец, О.М. Нарва, В.Ф. Харов. Изв. АН СССР. Неорг. матер., 12, 1932 (1976)
- В.Л. Кузнецов, М.В. Ведерников, П. Яндель, У. Биркхольц. Письма ЖТФ, 20, 75 (1994)
- Л.И. Анатычук. Термоэлементы и термоэлектрические устройства (Киев, Наук. думка, 1979)
- Э.В. Осипов. Твердотельная криогеника (Киев, Наук. думка, 1977)
- Справочник химика (Л., Химия, 1971) т. 1
- Ю.А. Кириченко, К.В. Русанов, Е.Г. Тюрина. Сверхпровод., физ., хим., техн., 3, 1385 (1990)
- О.А. Геращенко. Основы теплометрии (Киев, Наук. думка, 1971)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.