Исследование анизотропии пространственного распределения квантовых точек In(Ga)As в многослойных гетероструктурах In(Ga)As/GaAs методами рентгеновской дифрактометрии и просвечивающей электронной микроскопии
Фалеев Н.Н.1, Мусихин Ю.Г.2, Суворова А.А.2, Егоров А.Ю.2, Жуков А.Е.2, Ковш А.Р.2, Устинов В.М.2, Tabuchi M.3, Takeda Y.3
1Present address --- Electrical Engineering Department, Texas Tech University, Lubbock, Texas,, USA
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
3Department of Materials Science and Engineering, Nagoya University, 46 Nagoya, Japan
Поступила в редакцию: 19 декабря 2000 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2001 г.
Методы высокоразрешающей рентгеновской и синхротронной дифрактометрии и просвечивающей электронной микроскопии применены для исследования многослойных структур In(Ga)As-GaAs с массивом вертикально совмещенных квантовых точек In(Ga)As в матрице GaAs, выращенных методом молекулярно-пучковой эпитаксии. Показано, что в кристаллически совершенных структурах дополнительное (вертикальное и латеральное) пространственное упорядочение квантовых точек, вызывающее изгиб кристаллографических плоскостей и квазипериодическое распределение упругой деформации, существенно анизотропно по отношению к кристаллографическим направлениям типа [110]. Анизотропия формирующейся системы квантовых точек объясняется тем, что пространственное упорядочение квантовых точек и изгиб кристаллографических плоскостей являются начальными стадиями процесса релаксации упругих напряжений, вносимых в структуру квантовыми точками. Показано, что анизотропный рельеф кристаллографических плоскостей (гофрированная ростовая поверхность) обусловлен формированием системы пространственно упорядоченных квантовых квази-проволок, однородно заполненных квантовыми точками. В многослойной кристаллически совершенной гетероструктуре анизотропный рельеф кристаллографических плоскостей наследуется вышележащими слоями, постепенно уменьшаясь по амплитуде по мере удаления от источника упругих напряжений, в данном случае сверхструктуры, содержащей квантовые точки In(Ga)As.
- Y. Arakawa, H. Sakaki. Appl. Phys. Lett., 40, 939 (1982)
- L. Goldstein, F. Glas, J.Y. Marzin, M.N. Charasse, G. LeRoux. Appl. Phys. Lett., 47, 1099 (1985)
- Y. Arakawa, A. Yariv. IEEE J. Quant. Electron., QE-22, 1887 (1986)
- M. Asada, Y. Miyamoto, Y. Suematsu. IEEE J. Quant. Electron., QE-22, 1915 (1986)
- Semiconductors and Semimetals, v. 40: Epitaxial Microstructures, ed. by A.C. Gossard (Academic Press, Boston, 1994)
- Nanostructures and Quantum Effects, ed. by H. Sakaki, H. Noge (Springer Verlage, Berlin, 1994)
- Н.Н. Леденцов, В.М. Устинов, В.А. Щукин, П.С. Копьев, Ж.И. Алферов, Д. Бимберг. ФТП, 32, 385 (1998)
- S.V. Zaitsev, N. Yu. Gordeev, Yu.M. Sherniakov, V.M. Ustinov, A.E. Zhukov, A.Yu. Egorov, M.V. Maximov, P.S. Kop'ev, Zh.I. Alferov, N.N. Ledentsov, N. Kirstaedter, D. Bimberg. Proc. 9th Int. Conf. Superlattices, Microstructures and Microdevices (Liege, 1996); А.Е. Жуков, А.Ю. Егоров, А.Р. Ковш, В.М. Устинов, Н.Н. Леденцов, М.В. Максимов, А.Ф. Цацульников, С.В. Зайцев, Н.Ю. Гордеев, П.С. Копьев, Д. Бимберг, Ж.И. Алферов. ФТП, 31, 483 (1997)
- V. Holy. A.A. Darhuber, G. Bauer, P.D. Wang, Y.P. Song, C.M. Sotomayor Torres, M.C. Holland. Phys. Rev. B, 52, 8348 (1995)
- A.A. Darhuber, E. Koppensteiner, H. Straub, G. Brunthaler, W. Faschinger, G. Bauer. J. Appl. Phys., 76, 7816 (1994)
- A.A. Darhuber, V. Holy, J. Stangl, G. Bauer, A. Krost, F. Heinrichsdorff, M. Grundmann, D. Bimberg, V.M. Ustinov, P.S. Kop'ev, A.O. Kosogov, P. Werner. Appl. Phys. Lett., 70, 955 (1997)
- A.A. Darhuber, P. Schittenhelm, V. Holy, J. Stangl, G. Bauer, G. Abstreiter. Phys. Rev. B, 55, 15 652 (1997)
- N. Faleev, K. Pavlov, M. Tabuchi, Y. Takeda. Japan. J. Appl. Phys., 38, 818 (1999)
- N. Faleev, K. Pavlov, M. Tabuchi, Y. Takeda. Japan. J. Appl. Phys., 38, Suppl. 38-1, 277 (1999)
- K. Pavlov, N. Faleev, M. Tabuchi, Y. Takeda. Japan. J. Appl. Phys., 38, Suppl. 38-1, 269 (1999)
- Н.Н. Фалеев, К.М. Павлов, В.И. Пунегов, А.Ю. Егоров, А.Е. Жуков, А.Р. Ковш, С.С. Михрин, В.М. Устинов, M. Tabuchi, Y. Takeda. ФТП, 33, 1359 (1999)
- S. Rouvimov, Z. Liliental-Weber, W. Swider, J. Washburn, E.R. Weber, A. Sasaki, A. Wakahara, Y. Furkawa, T. Abe, S. Noda. J. Electron. Mater., 27, 427 (1998)
- A.R. Kovsh, A.E. Zhukov, A.Yu. Egorov, V.M. Ustinov, Yu.M. Shernyakov, M.V. Maximov, V.V. Volovik, A.E. Tsatsul'nikov, Yu.G. Musikhin, N.N. Ledentsov, P.S. Kop'ev, D. Bimberg, Zh.I. Alferov. J. Cryst. Growth, 201/202, 1117 (1999)
- J. Tersoff, C. Teichert, M.G. Lagally. Phys. Rev. Lett., 76, 1675 (1996); C. Teichert, M.G. Lagally, L.J. Peticolas, J.C. Bean, J. Tersoff. Phys. Rev. B, 53, 16 334 (1996)
- I.P. Ipatova, V.G. Malyshkin, V.A. Shchukin. J. Appl. Phys., 74, 7198 (1993)
- V.A. Shchukin, A.I. Borovkov, N.N. Ledentsov, P.S. Kop'ev. Phys. Rev. B, 51, 17 767 (1995)
- E. Carlino, L. Tapfer, H. von Kanel. Appl. Phys. Lett., 69, 2546 (1996)
- K. Shiramine, Y. Horisaki, D. Suzuki, S. Itoh, Y. Ebiko, S. Muto, Y. Nakata, N. Yokoyama. Japan. J. Appl. Phys., 37, 5493 (1998)
- В.Г. Груздов, А.О. Косогов, Н.Н. Фалеев. Письма ЖТФ, 20 (14), 1 (1994)
- A. Ponchet, A. Rocher, A. Ougazzaden, A. Mircea. J. Appl. Phys., 75, 7881 (1994); A. Ponchet, A. Le Corre, A. Godefroy, S. Salaun, A. Poudoulec. J. Cryst. Growth, 153, 71 (1995)
- R.L. Headrick, J.-M. Baribeau, Y.E. Strausser. Appl. Phys. Lett., 66, 96 (1995)
- T. Shimura, J. Harada. J. Appl. Crystallogr., 26, 151 (1993)
- N. Faleev, L. Grave de Peralta, H. Temkin, V.M. Ustinov. Abstracts X-TOP 2000 (Warsaw, 2000) S4.3
- N. Faleev, T. Kawamura, Y. Watanabe, V. Ustinov. Abstracts X-TOP 2000 (Warsaw, 2000) P2-HG139
- L. Dong, J. Schnitker, R.W. Smith, D.J. Srolovitz. J. Appl. Phys., 83, 217 (1998)
- N. Faleev, R. Stabenow, M. Sinitsyn, B. Yavich, A. Haase, A. Grudsky. Matter. Sci. Forum, 166--169, 293 (1994)
- A. Ponchet, A. Rocher, J.-Y. Emery, C. Starck, L. Goldstein. J. Appl. Phys., 77, 1977 (1995)
- Z.H. Ming, Y.L. Soo, S. Huang, Y.H. Kao, K. Stair, G. Devane, C. Choi-Feng. Appl. Phys. Lett., 66, 165 (1995).
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.