Переходные характеристики МОП тиристоров, облученных электронами
Чернявский Е.В.1, Попов В.П.1, Пахмутов Ю.С.1, Красников Ю.И.1, Сафронов Л.Н.1
1Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия
Поступила в редакцию: 14 февраля 2001 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2001 г.
Представлены результаты разработки и изготовления МОП тиристоров. Изучены статические и динамические характеристики. Исследовано влияние облучения электронами на статические и динамические характеристики. Обнаружено, что облучение электронами существенно уменьшает время выключения МОП тиристора. Также наблюдалось увеличение плотности управляемого тока.
- T. Ogura, M. Kitagava, A. Nakagava, H. Ohashi. IEEE Trans. Electron. Dev., ED-38, 1491 (1991)
- M. Kegura, H. Akiyama, M. Tani, S. Yamada. IEEE Trans. Power Electron., 5, 430 (1990)
- T. Ogura, A. Nakagava, M. Atsuta, Y. Kamei, K. Takigami. IEEE Trans. Electron. Dev., ED-40, 628 (1993)
- F. Bauer, E. Halder, K. Hoffman, H. Hollenbeck, P. Roggwiller, T. Stockmeier, J. Burgler, W. Fichtner, S. Muller, M. Westermann, J.M. Moret, R. Vuilleumier. IEEE Trans. Electron. Dev., ED-38, 1605 (1991)
- F. Bauer, H. Haddon, T. Stockmeier, W. Fichtner, R. Vuilleumier, J.M. Moret. Proc. of Int. Conf. MADEP 91 (1991) p. 270
- H. Dettmer, W. Fichtner, F. Bauer, T. Stockmeier. Proc. Int. Conf. ISPSD 94 (1994) p. 13
- S.D. Brotherton, P. Bradley. J. Appl. Phys., 53, 5720 (1982)
- A.O. Evwaraye, B.J. Baliga. J. Electrochem. Soc., 124, 913 (1977)
- G.I. Andersson, M.O. Andersson, O. Andersson. J. Appl. Phys., 72, 2680 (1992)
- K. Nakayama, H. Matsuda, Jap. J. Appl. Phys., 37, 4751 (1998)
- M.F. Chang, E.E. Wolley, S.F. Bevacqua. Proc. Industry Appl. Soc. (1979) p. 1068
- S.K. Chandi. Semiconductor Power Devices (N.-Y. Willey-Intersience, 1977)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.