Влияние плотности лазерного возбуждения на характеристическую временную постоянную и величину среднеполевой электромодуляционной компоненты сигнала фотоотражения в области фундаментального перехода E0
Кузьменко Р.В.1, Ганжа А.В.1, Домашевская Э.П.1, Хильдебрандт С.2, Шрайбер Й.2
1Воронежский государственный университет (Физический факультет, Кафедра физики твердого тела), Воронеж, Россия
2Fachbereich Physik der Martin Luther Universitat Halle-Wittenberg, Halle / Saale, Deutschland
Поступила в редакцию: 12 марта 2001 г.
Выставление онлайн: 20 января 2002 г.
Исследуется влияние плотности лазерного возбуждения L на величину и характеристическую временную постоянную среднеполевой электромодуляционной компоненты спектров фотоотражения, измеряемых в области фундаментального перехода E0 прямозонного полупроводника. Серии измерений спектров проводились в области значений L=100 мкВт/см2-1 Вт/см2 на образцах GaAs с концентрацией носителей заряда n~1016 см-3. Для всех исследованных образцов обнаружена логарифмическая зависимость величины электромодуляционного сигнала от плотности лазерного возбуждения. Установлено, что наблюдаемое изменение характеристической временной постоянной компоненты не оказывает какого-либо заметного влияния на величину измеряемого сигнала.
- D.E. Aspnes. Surf. Sci., 37, 418 (1973)
- H. Shen, M. Dutta. J. Appl. Phys., 78, 2151 (1995)
- J.P. Estrera, W.M. Duncan, R. Glosser. Phys. Rev. B, 49, 7281 (1994)
- Р. Кузьменко, А. Ганжа, Э.П. Домашевская, В. Кирхер, Ш. Хильдебрандт. ФТП, 34, 1086 (2000)
- R. Ditchfield, D. Llera-Rodriguez, E.G. Seebauer. Phys. Rev. B, 61, 13 710 (2000)
- E.R. Wagner, A. Manselis. Phys. Rev. B, 50, 14 228 (1994)
- H. Shen, S.H. Pan, Z. Hang, J. Leng, F.H. Pollak, J.M. Woodall, R.N. Sacks. Appl. Phys. Lett., 53, 1080 (1988)
- E.G. Seebauer. J. Appl. Phys., 66, 4963 (1989)
- А.В. Ганжа, В. Кирхер, Р.В. Кузьменко, Й. Шрайбер, С. Хильдебрандт. ФТП, 32, 272 (1998)
- S. Hildebrandt, M. Murtagh, R. Kusmenko, W. Kircher, G.M. Crean, J. Schreiber. Phys. St. Sol. (a), 152 , 147 (1995)
- P.M. Pires, P.L. Souza, J.P. von der Weid. Appl. Phys. Lett., 65, 88 (1994)
- T. Kanata, M. Matsugana, T. Takakura, Y. Hamakawa. J. Appl. Phys., 69, 3691 (1991)
- H. Shen, M. Dutta, R. Lux, W. Buchwald, L. Fotiadis, R.N. Sacks. Appl. Phys. Lett., 59, 321 (1991)
- D.E. Aspnes. Phys. Rev., 147, 554 (1966)
- D.E. Aspnes. Phys. Rev., 153, 972 (1967)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук