Физика и техника полупроводников
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Микродеформация кристаллической решетки твердых растворов PbTe1-xBrx
1Воронежский государственный университет, Воронеж, Россия 
Поступила в редакцию: 13 марта 2014 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2014 г.
Анализом физического уширения рентгеновских рефлексов определена микродеформация кристаллической решетки твердых растворов PbTe1-xBrx в зависимости от содержания брома. Обнаружено, что она увеличивается при введении брома от 0.188% (у нелегированного PbTe) до 0.283% у PbTe1-xBrx при x = 0.02. При дальнейшем увеличении содержания брома микродеформация остается постоянной.
- И.Б. Захарова, Т.И. Зубкова, С.А. Немов, О.В. Рабизо, В.Н. Выдрик. ФТП, 28 (10), 1802 (1994)
- H. Zogg, C. Maissen. J. Masek, S. Blunier, A. Fach. Opt. Eng., 33 (5), 1440 (1994)
- М.К. Шаров. Неорг. матер., 45, (8), 1021 (2009)
- М.К. Шаров, О.Б. Яценко, А.М. Самойлов. Поверхность, рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 7, 77 (2010)
- М.К. Шаров, О.Б. Яценко, Я.А. Угай. Неорг. матер., 42 (7), 800 (2006)
- Я.С. Уманский, Ю.А. Скаков, А.Н. Иванов, Л.Н. Расторгуев. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия (М., Металлургия, 1982)
- Я.С. Уманский. Рентгенография металлов и полупроводников. (М., Металлургия, 1969)
- J. Puerta, P. Martin. Appl. Optic., 20 (22), 3923 (1981)
- P. Dasgupta. Fisika A (Croatia), 2, 61 (2000)
- H.M. Rietveld. J. Appl. Crystallogr., 2 (2), 65 (1969)
- М.К. Шаров. Перспективные матер., 3, 30 (2009)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
