Физика и техника полупроводников
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Особенности вольт-амперных характеристик в тонких проводящих слоях органических светодиодов
1Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ", Москва, Россия 
Поступила в редакцию: 21 января 2014 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2014 г.
Проведено аналитическое моделирование вольт-амперных характеристик в тонком органическом слое, помещeнном между проводящими электродами. Для этого разработана теоретическая модель, которая учитывает не только взаимодействие инжектированного носителя заряда с его зеркальным зарядом-"отражением" в ближайшем электроде, но и эффект многократных отражений, а также ток инжекции с противоположного электрода. Вольт-амперные характеристики при разных температурах и высотах барьера сравниваются с моделью, развитой ранее Архиповым и соавторами. Установлены пределы применимости этой модели. При низких температурах и малых значениях напряжения эффект многократных отражений становится существенным, что приводит к увеличению тока. Результаты необходимо учитывать при тестировании отдельных тонких слоeв, входящих в многослойные органические светодиоды.
- R.H. Friend, R.W. Gymer, A.B. Holmes, J.H. Burroughes, R.N. Marks, C. Taliani, D.D.C. Bradley, D.A. DosSantos, J.L. Bredas, M. Loglund, W.R. Salaneck. Nature, 397, 121, (1999)
- E. Knapp, R. Hausermann, H.U. Schwarzenbach, B. Ruhstaller. J. Appl. Phys., 108, 054 504 (2010)
- Y.F. Huang, A.R. Inigo, C.C. Chang, K.C. Li, C.F. Liang, C.W. Chang, T.S. Lim, S.H. Chen, J.D. White, U.S. Jeng, A.C. Su, Y.S. Huang, K.Y. Peng, S.A. Chen, W.W. Pai, C.H. Lin, A.R. Tameev, S.V. Novikov, A.V. Vannikov, W. Fann. Adv. Funct. Mater., 17, 2902 (2007)
- S. Raj Mohan, Manoranjan P. Singh, M.P. Joshi. Organic Electronics, 11, 1642 (2010)
- Н.А. Королeв, В.Р. Никитенко, Д.В. Иванов. ФТП, 45, 235 (2011)
- H. Bassler. Phys. Status Solidi B, 175, 15 (1993)
- T. van Woudenbergh, P.W.M. Blom, M.C.J.M. Vissenberg, J.N. Huiberts. Appl. Phys. Lett., 79, 1697 (2001)
- J.J.M. van der Holst, M.A. Uijttewaal, B. Ramachandhran, R. Coehoorn, P.A. Bobbert, G.A. de Wijs, R.A. de Groot. Phys. Rev. B, 79, 085 203 (2009)
- V.I. Arkhipov, E.V. Emelianova, Y.-H. Tak, H. Bassler. J. Appl. Phys., 84, 848 (1998)
- V.I. Arkhipov, U. Wolf, H. Bassler. Phys. Rev. B, 59, 7514 (1999)
- L. Onsager. Phys. Rev. 54, 554 (1938)
- R. Habercorn, M.E. Michel-Beyerle. Chem. Phys. Lett., 23 (1), 128 (1973)
- Yu.A. Genenko, S.V. Yampolskii, C. Melzer, K. Stegmaier, H. von Seggern. Phys. Rev. B, 81, 125 310-125 310-15 (2010)
- A. Miller, E. Abrahams. Phys. Rev. 120, 745 (1960)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
