Вышедшие номера
Механизмы деградации фотодиодов с барьером Шоттки на основе монокристаллов ZnS
Корсунская Н.Е.1, Шульга Е.П.1, Стара Т.Р.1, Литвин П.М.1, Бондаренко В.А.1
1Институт физики полупроводников им. В.Е. Лашкарева Национальной академии наук Украины, Киев, Украина
Email: stara_t@ukr.net
Поступила в редакцию: 31 марта 2015 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2015 г.

Исследовано влияние ультрафиолетового излучения на электрические и спектральные характеристики фотодиодов с барьером Шоттки на основе монокристаллов ZnS. Установлено, что облучение приводит к уменьшению их фоточувствительности, а также к изменению вольт-амперных, вольт-фарадных характеристик и рельефа поверхности запирающего электрода. Показано, что основной причиной уменьшения фоточувствительности диодов является фотостимулированный дрейф подвижных доноров в поле барьера, который зависит от кристаллографической ориентации облучаемой поверхности. Другим фотостимулированным процессом, наблюдавшимся в исследованных диодах, является фотолиз кристалла. Он определяет в основном изменение электрических характеристик диодов, а также рельефа поверхности электрода при незначительном изменении фоточувствительности.