Вышедшие номера
Влияние примеси самария на структуру и морфологию поверхности халькогенидного стеклообразного полупроводника Se95Te5
Мехтиева С.И.1, Атаева С.У.1, Исаев А.И.1, Зейналов В.З.1
1Институт физики им. Г.М. Абдуллаева НАН Азербайджана, Баку, Азербайджан
Email: seva_atayeva@mail.ru
Поступила в редакцию: 3 марта 2016 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2017 г.

Методами рентгеновской дифракции и атомно-силовой микроскопии исследованы структура и морфология поверхности пленок Se95Te5, а также влияние на них легирования самарием. C использованием параметров первого резкого дифракционного максимума (FSDP), наблюдаемого в картинах распределения интенсивности дифракции рентгеновских лучей, определены численные значения параметров локальной структуры, в частности "квазипериод" флуктуаций плотности, длина корреляции, диаметры нанопустот. Кроме того, определены численные значения амплитудных параметров шероховатости поверхности. Установлено, что с увеличением процентного содержания примеси самария наблюдается рост разупорядочения в атомной структуре и рост неоднородностей на поверхности исследуемых пленок. DOI: 10.21883/FTP.2017.06.44561.8228