Физика и техника полупроводников

Авторам

Правила оформления публикаций

Вышедшие номера

2024
- 1 2 3 4 5 6 7
2023
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9
2022
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2021
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2020
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2019
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2018
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13
2017
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2016
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2015
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2014
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2013
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2012
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2011
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2010
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2009
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2008
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2007
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2006
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2005
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2004
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2003
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2002
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2001
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2000
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1999
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1998
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1997
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1996
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1995
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1994
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1993
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1992
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1991
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1990
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1989
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1988
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Structural Features of Sm_1-xEu_xS Thin Polycrystalline Films

DOI: 10.21883/FTP.2017.06.44569.8409

Kaminskii V.V.¹, Solov'ev S.M.¹, Khavrov G.D.¹, Sharenkova N.V.¹, Hirai Shinji²

¹Ioffe Institute, Russian Academy of Sciences, St. Petersburg, Russia Ioffe Institute, St. Petersburg, Russia

²Muroran Institute of Technology, Muroran, Hokkaido, Japan

Email: Vladimir.Kaminski@mail.ioffe.ru

Поступила в редакцию: 21 сентября 2016 г.

Выставление онлайн: 20 мая 2017 г.

PDF версия

Абстракт
Литература
Статистика просмотров

Thin polycrystalline Sm_1-xEu_xS films (x=0.1, 0.167, 0.2, 0.25, 0.33, 0.5) were prepared by evaporation of SmS and EuS powders. Structural features of the films were investigated. The influence of Eu concentration and temperature of film deposition on the value of lattice parameter and sizes of x-ray coherent scattering regions was studied. It is shown that formation of Sm_1-xEu_xS films comes about according to the theory that was previously suggested for SmS films and that the deviation of lattice parameter is explained by the variable valence of samarium ions. DOI: 10.21883/FTP.2017.06.44569.8409

V.V. Kaminskii, A.A. Molodykh, S.M. Solov'ev, A.A. Vinogradov, N.M. Volodin. RF Patent No.2564698 (February 28, 2014)
V.V. Kaminskii, M.M. Kazanin, S.M. Solov'ev, A.V. Golubkov. Techn. Phys., 57 (6), 874 (2012)
V.V. Kaminskii, N.N. Stepanov, M.M. Kazanin, A.A. Molodykh, S.M. Solov'ev. Phys. Solid State, 55 (5), 1074 (2013)
V.V. Slutskaya. Thin Films in UHF Technology (M., Sov. Radio, 1962) [in Russian]
S.S. Gorelik, L.N. Rastorguev, Yu.A. Skakov. X- Ray and Electron-Optical Analysis (M., Metallurgiya, 1970) p. 368 [in Russian]
S.V. Pogarev, I.N. Kulikova, E.V. Goncharova, M.V. Romanova, L.D. Finkel'shtein, N.N. Efremova, T.B. Zhukova, K.G. Gartsman, I.A. Smirnov. Sov. Phys. Solid State, 23, 245 (1981)
N.V. Sharenkova, V.V. Kaminskii, S.N. Petrov. Techn. Phys., 56 (9), 1363 (2011)
V.S. Oskotskii, I.A. Smirnov. Rare Earth Semiconductors, ed. by V.P. Zhuze, I.A. Smirnov (Leningrad, Nauka, 1977) p. 105 [in Russian]

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель