Вышедшие номера
Home » Физика и техника полупроводников » Год 2018, выпуск 8 » Статья стр. 931
<<<>>>
Деградация фотолюминесценции тонких пленок ZnTPP и ZnTPP-C60 под действием гамма-облучения
DOI: 10.21883/FTP.2018.08.46222.8816
Переводная версия: 10.1134/S1063782618080183
Романов Н.М. 1,2, Елистратова М.А. 3, Lahderanta E.2, Захарова И.Б. 1
1Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Санкт-Петербург, Россия
2Lappeenranta University of Technology, Lappeenranta, Finland
3Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: nikromanov.90@gmail.com, marina.elistratova@mail.ioffe.ru, Erkki.Lahderanta@lut.fi, zakharova@rphf.spbstu.ru
Поступила в редакцию: 11 января 2018 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2018 г.
PDF версия
Порфирины и их комплексы с фуллереном являются перспективными материалами для реализации органических фотовольтаических структур. Однако стабильность свойств органических компонент под действием жесткого облучения практически не изучена. В работе исследовано влияние gamma-облучения средними (порядка 104 Гр) и большими (107 Гр) дозами на фотолюминесценцию тонких структурно-совершенных пленок, как чистого порфирина ZnTPP, так и композитных пленок ZnTPP/C60 в молярном соотношении 1.3 : 1. Показано, что под действием gamma-облучения интенсивность электронного излучательного перехода (626 нм) уменьшается, причем дозовая зависимость носит пороговый характер. Пороговая доза составляет ~20 кГр для пленок ZnTPP. В обоих типах образцов интенсивность электронно-колебательной части спектральной зависимости ФЛ (670-690 нм) увеличивалась при начальных дозах облучения и при дальнейшем возрастании дозы облучения уменьшается слабее, чем для чисто электронного перехода. В нанокомпозитных пленках добавление фуллерена в ~2.5 раза увеличивает пороговую дозу, после которой начинается деградация ФЛ пленок. При этом спектральные составляющие ФЛ, связанные с проявлением излучения фуллерена С60, более стабильны под действием gamma-облучения.
  1. M. Jurow, A.E. Schuckman, J.D. Batteas, C.M. Drain. Coord. Chem. Rev., 254 (19), 2297 (2010)
  2. A. Suzuki, K. Nishimura, T. Oku. Electronics, 3 (1), 112 (2014)
  3. M.G. Walter, A.B. Rudineb, C.C. Wamser. J. Porphyrins Phthalocyanines, 14 (7), 759 (2010)
  4. М.А. Елистратова, И.Б. Захарова, Н.М. Романов, В.Ю. Паневин, О.Е. Квятковский. ФТП, 50 (9), 1213 (2016)
  5. И.Б. Захарова, В.М. Зиминов, Н.М. Романов, О.Е .Квятковский, Т.Л. Макарова. ФТП, 56 (5), 1024 (2014)
  6. H.M. Zeyada, M.M. Makhlouf, M.A. Ali. Jpn. J. Appl. Phys., 55 (2), 022601 (2016)
  7. Г.П. Гуринович, А.Н. Севченко, К. Н. Соловьев. УФН, 79, 173 (1963)
  8. S.K. Sugunan, B. Robotham, R.P. Sloan, J. Szmytkowski, K.P. Ghiggino, M.F. Paige, R.P. Steer. J. Phys. Chem. A, 115 (44), 12217 (2011)
  9. J.C. Ostrowski, K. Susumu, M.R. Robinson, M.J. Therien, G.C. Bazan. Adv. Mater., 15 (15), 1296 (2003)
  10. C. Trinh, M.T. Whited, A. Steiner, C.J. Tassone, M.F. Toney, M.E. Thompson. Chem. Mater., 24 (13), 2583 (2012)
  11. X.L. Zhang, J.W. Jiang, Y.T. Liu, S.T. Lou, C.L. Gao, Q.Y. Jin. Sci. Rept., 6, 22756 (2016)
  12. И.Б. Захарова, М.А. Елистратова, Н.М. Романов, О.Е. Квятковский. ФТП (2018)
  13. D. Sinha, T. Swu, S.P. Tripathy, R. Mishra, K.K. Dwivedi, D. Fink. Radiat, Eff. Defects Solids, 158 (7), 531 (2003)
  14. A. Mizera, M. Manas, D. Manas, M. Stanek, J. Cerny, M. Bednarik, M. Ovsik. Int. J. Math. Comput. Simulat., 6 (6), 584 (2012)
  15. M.F Zaki. J. Phys. D: Appl. Phys., 41 (5), 175404 (2008)
  16. A. Tidjani, Y. Watanabe. J. Polym. Sci. A: Polym. Chem., 33 (9), 1455 (1995)
  17. M.M. El-Nahass, H.M. Abd El-Khalek, A.M. Nawar. Optics Commun., 285 (7), 1872 (2012)
  18. D.J.Y.S. Page, H.W. Bonin, V.T. Bui, P.J. Bates. J. Appl. Polym. Sci., 86 (11), 2713 (2002)
  19. M.M. El-Nahass, A.H. Ammar, A.A. Atta, A.A.M. Farag, E.F.M. El-Zaidia. Optics Commun., 284 (9), 2259 (2011)
  20. F. Cataldo, G. Strazzulla, S. Iglesias. Mon. Not. R. Astron. Soc., 394 (2), 615 (2009)
  21. F. Cataldo, E. Lilla, O. Ursini, G. Angelini. J. Radioanal. Nucl. Chem., 279 (1), 31 (2009)
  22. S.P. Jovanovic, Z.M. Markovic, D.N. Kleut, D.D. Tosic, D.P. Kepic, M.T. Marinovic-Cincovic, B.M. Todorovic-Markovic. Hemijska Industrija, 65 (5), 479 (2011)
  23. V.A. Basiuk, G. Albarran, E.V. Basiuk, J.M. Saniger. Adv. Space Res., 36 (2), 173 (2005)
  24. F. Cataldoa, O. Ursinib, G. Angelinib. Rad. Phys. Chem., 77 (6), 742 (2008)
  25. A.M. Todd, T. Zhua, F. Zhang, C.U. Zhang, A.D. Berger, J. Xu. Chem. Mater., 16 (23), 4533 (2004)
  26. M.A. Elistratova., I.B. Zakharova, N.M. Romanov. J. Phys.: Conf. Ser., 586 (1), 012002 (2015)
  27. Н.М. Романов, И.Б. Захарова. НТВ СПбПУ, 2 (242), 9 (2016)
  28. И.Б. Захарова, О.Е. Квятковский, Е.Г. Доненко, Ю.Ф. Бирюлин. ФТТ, 51 (9), 1860 (2009)
  29. A.L. Litvinov, D.V. Konarev, A.Yu. Kovalevsky, P. Coppensband, R.N. Lyubovskaya. Cryst. Eng. Commun., 5 (25), 137 (2003)
  30. E. Cavar, M.C. Blum, M. Pivetta, F. Patthey, M. Chergui, W.D. Schneider. Phys. Rev. Lett., 95 (19), 196102 (2005)
  31. И.Б. Захарова, В.М. Зиминов, Н.М. Романов, О.Е. Квятковский, Т.Л. Макарова. ФТТ, 56 (5), 1024 (2014).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme