Оптические и структурные свойства наноструктур Ag и c-Si, формирующихся в процессе металл-стимулированного химического травления кремния
Жарова Ю.А.1, Толмачев В.А.1, Павлов С.И.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: piliouguina@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 20 ноября 2018 г.
Выставление онлайн: 20 марта 2019 г.
Работа, состоящая из двух частей, посвящена изучению особенностей трeхстадийного процесса металл-стимулированного химического травления кремния (МCХТ), используемого для получения кремниевых нанонитей. Ранее нами было проведено исследование слоя самоорганизующихся наночастиц серебра, осаждаемых химическим методом из раствора на поверхности монокристаллического кремния (c-Si) (стадия 1 МСХТ), а в настоящей работе - наноструктур Si, формируемых на стадиях 2 и 3. С помощью спектральной эллипсометрии (длины волн λ=250-900 нм) определены псевдодиэлектрические функции наноструктур и проведено их сопоставление для всех трех стадий процесса МСХТ. Кроме того, для наноструктур Si вычислены параметры слоев (толщина и доля пустот) в многослойной оптической модели с использованием приближения эффективной среды Бруггемана и подгоночных процедур.
- Ю.А. Жарова, В.А. Толмачев, С.И. Павлов, Е.В. Гущина. ФТП, 52 (3), 333 (2018)
- Min Lv, Shao Su, Yao He, Qing Huang, Wenbing Hu, Di Li, Chunhai Fan, Shuit-Tong Lee. Adv. Mater., 22 (48), 5463 (2010)
- Hee Han, Zhipeng Huang, Woo Lee. Nanotoday, 9, 271 (2014)
- L.A. Osminkina, K.A. Gonchar, V.S. Marshov, K.V. Bunkov, D.V. Petrov, L.A. Golovan, V.A. Sivakov, V.Yu. Timoshenko. Nanoscale Res. Lett., 7, 524 (2012)
- Ellipsometry at the Nanoscale, ed. by M. Losurdo, K. Hingerl (N.Y.-Dordrecht-London, Springer, 2013) p. 1
- E. Agocs, P. Petrik, S. Milita, L. Vanzetti, S. Gardelis, A.G. Nassiopoulou, G. Pucker, R. Balboni, M. Fried. Thin Sol. Films, 519, 3002 (2011)
- Л.А. Головань, В.Ю. Тимошенко, П.К. Кашкаров. Успехи физ. наук, 177 (6), 619 (2008)
- B. Fodor, T. Defforge, E. Agocs, M. Fried, G. Gautier, P. Petrik. Appl. Surf. Sci., 421, 397 (2017)
- В.А. Швец, Е.В. Спесивцев, С.В. Рыхлицкий, Н.Н. Михайлов. Рос. нанотехнол., 4, 201 (2009) [Nanotechnologies in Russia, 4, 201 (2009)]
- Р. Аззам, Н. Башара. Эллипсометрия и поляризованный свет (М., Мир, 1981) c. 316 [Пер. с англ.: R.M.A. Azzam, N.M. Bashara. Ellipsometry and Polarized Light (Amsterdam--N.Y.--Oxford, North-Holland Publ. Co, 1977)
- D.E. Aspnes. Thin Sol. Films, 89, 249 (1982)
- Handbook of Optical Constants of Solids, ed. by Palik (N.Y., Academic Press, 1985)
- D.A.G. Bruggeman. Ann. Phys. (Leipzig), 416, 636 (1935)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.