Топологические поверхностные состояния фермионов Дирака в термоэлектриках n-Bi2Te3-ySey
Российский фонд фундаментальных исследований (РФФИ), 16-08-00478
Лукьянова Л.Н.
1, Макаренко И.В.
1, Усов О.А.
1, Дементьев П.А.
11Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: lidia.lukyanova@mail.ioffe.ru, igor.makarenko@mail.ioffe.ru, demenp@yandex.ru
Поступила в редакцию: 20 декабря 2018 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 2019 г.
В термоэлектриках n-Bi2Te3 и n-Bi2Te3-ySey исследованы поверхностные состояния фермионов Дирака межслоевой ван-дер-ваальсовой поверхности (0001) методами сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии. Морфология поверхности и характер модуляции на линейных профилях изображений, полученных методом туннельной микроскопии, определяется локальными искажениями плотности поверхностных электронных состояний и зависит от состава. Точка Дирака ED в исследованных составах локализована в запрещенной зоне и смещается к потолку валентной зоны с увеличением содержания Se в твердых растворах n-Bi2Te3-ySey. Установлена зависимость между параметрами поверхностных состояний фермионов Дирака (положением точки Дирака, скоростью Ферми, поверхностной концентрацией фермионов) и термоэлектрическими свойствами (коэффициентом Зеебека и параметром мощности) в исследованных термоэлектриках.
- M.Z. Hasan, C.L. Kane. Rev. Mod. Phys., 82, 3045 (2010)
- J. Lee, J. Koo, Y.M. Jhon, J.H. Lee. Opt. Express, 22, 6165 (2014)
- J. Zilong, C. Cui-Zu, M.R. Masir, Chi Tang, Y. Xu, J.S. Moodera, A.H. MacDonald, S. Jing. Nature Commun., 7, 11458 (2016)
- Y.P. Chen. Proc. SPIE, 8373, 83730B (2012)
- M. Eschbach et al. Nature Commun., 6, 8816 (2015)
- Ning Xu, Yong Xu, Jia Zhu. npj Quantum Materials, 2, 51 (2017)
- S.Y. Matsushita, K.K. Huynh, H. Yoshino, N.H. Tu, Y. Tanabe, K. Tanigaki. Phys. Rev. Mater., 1, 054202 (2017)
- L.N. Lukyanova, I.V. Makarenko, O.A. Usov, P.A. Dementev. Semicond. Sci. Technol., 33, 055001 (2018)
- R.W.G. Wyckoff. Crystal Structures (N.Y., Wiley, 1964) v. 2
- W. Ko, I. Jeon, H.W. Kim, H. Kwon, S.-J. Kahng, J. Park, J.S. Kim, S.W. Hwang, H. Suh. Sci. Reports, 3, 2656 (2013)
- L. Petersen, P.T. Sprunger, P. Hofmann, E. Lagsgaard, B.G. Briner, M. Doering, H.-P. Rust, A.M. Bradshaw, F. Besenbacher, E.W. Plummer. Phys. Rev. B, 57 R6858 (1998)
- C. Wagner, R. Franke, T. Fritz. Phys. Rev. B, 75, 235432 (2007)
- А.Н. Вейс, М.К. Житинская, Л.Н. Лукьянова, В.А. Кутасов. Науч.-техн. ведомости СПбГПУ. Физ.-мат. науки, 177 (3), 29 (2013)
- W.S. Whitney, V.W. Brar, Y. Ou, Y. Shao, A.R. Davoyan, D.N. Basov, K. He, Q.-K. Xue, H.A. Atwater. Nano Lett., 17, 255 (2017)
- H. Liu, S. Liu, Ya Yi, H. He, J. Wang. 2D Mater., 2, 045002 (2015).
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.