Вышедшие номера
Фотоэлектрический метод диагностики гетероструктур InGaN/GaN c множественными квантовыми ямами
Барановский М.В.1, Глинский Г.Ф.1, Миронова М.С.1
1Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 15 мая 2012 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2012 г.

Исследованы зависимости фототока гетероструктур InGaN/GaN с множественными квантовыми ямами от обратного смещения. Обнаружены характерные особенности, связанные с последовательным прохождением границы области объемного заряда через квантовые ямы исследуемой структуры. Экспериментально показано, что для каждой квантовой ямы существует область обратных смещений с отрицательной дифференциальной проводимостью, которая исчезает при увеличении энергии фотонов оптического возбуждения. Предполагается, что этот эффект обусловлен смещением края оптического поглощения в квантовой яме, которое происходит при частичной компенсации пьезоэлектрического поля в области квантовой ямы электрическим полем p-n-перехода.