Нарушение нейтральности и возникновение S-образной вольт-амперной характеристики при двойной инжекции в легированных полупроводниках
Мнацаканов Т.Т.1, Тандоев А.Г.1, Левинштейн М.Е.2, Юрков С.Н.1, Palmour J.W.3
1Всероссийский электротехнический институт им. В.И. Ленина, Москва, Россия
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
3CREE Inc., Silicon Dr., Durham NC, USA
Поступила в редакцию: 24 апреля 2012 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2013 г.
Показано, что в легированном n-слое p+-n-n+-структур в условиях двойной инжекции при высоком уровне инжекции и определенном сочетании электрофизических параметров может произойти нарушение квазинейтральности с последующим ее восстановлением при увеличении плотности тока. Нарушение квазинейтральности влечет за собой заметное увеличение напряжения на базе, а последующее восстановление нейтральности - к резкому падению напряжения. В результате формируется S-образная вольт-амперная характеристика. Характерное значение пороговой плотности тока, при которой формируется участок S-образного сопротивления, пропорционально уровню легирования базы Nd.
- M.A. Lampert, P. Mark. Current injection in solids (Academic Press, N.Y.--London, 1970)
- T.T. Mnatsakanov, D. Schroder, A. Schlogl. Sol. St. Electron., 42, 153 (1998)
- N.V. Dyakonova, P.A. Ivanov, V.A. Kozlov, M.E. Levinshtein, J.W. Palmour, S.L. Rumyantsev, R. Singh. IEEE Trans. Electron. Dev., 46, 2188 (1999)
- L.M. Hillkirk. Sol. St. ELectron., 48, 2181 (2004)
- M.E. Levinshtein, T.T. Mnatsakanov, P.A. Ivanov, J.W. Palmour, M.K. Das, B.A. Hull. Semicond. Sci. Technol., 23, 085 011 (2008)
- Y. Sugawara, D. Takayama, K. Asano, R. Singh, J. Palmour, T. Hayashi. Proc. 2001 Int. Symp. on Power Semiconductor Devices \& Ics (Osaka, Japan, 2002) p. 27
- T.T. Mnatsakanov, A.G. Tandoev, S.N. Yurkov, M.E. Levinshtein. J. Appl. Phys., 105, 044 506 (2009)
- T.T. Mnatsakanov, A.G. Tandoev, S.N. Yurkov, M.E. Levinshtein. Semicond. Sci. Technol., 24, 075 006 (2009)
- T.T. Mnatsakanov, A.G. Tandoev, M.E. Levinshtein, S.N. Yurkov. Sol. St. Electron., 56, 60 (2011)
- Т.Т. Мнацаканов, М.Е. Левинштейн, А.Г. Тандоев, С.Н. Юрков. ФТП, 45, 196 (2011)
- V.B. Shuman, T.T. Mnatsakanov, M.E. Levinshtein, A.G. Tandoev, S.N. Yurkov, J.W. Palmour. Semicond. Sci. Technol., 26, 085 016 (2011)
- T.T. Mnatsakanov. Phys. Status Solidi B, 143, 225 (1987)
- T.T. Mnatsakanov, I.L. Rostovtsev, N.I. Philatov. Sol. St. Electron., 30, 579 (1987)
- M.E. Levinshtein, S.L. Rumyantsev, T.T. Mnatsakanov, A.K. Agarwal, J.W. Palmour. In: SiC Materials and Devices, eds M.S. Shur, S.L. Rumyantsev and M.E. Levinsthein (World Sceintific, 2006) v. 1
- Handbook Series of Semiconductor Parameters: Elementary Semiconductors and AIIIBV Compounds Si, Ge, C, GaAs, GaP, GaSb, InAs, InP, InSb, eds M.E. Levinshtein, S.L. Rumyantsev, M.S. Shur (Singapore, World Scientific, 1996) v. 1
- A. Herlet. Sol. St. ELectron., 11, 717 (1968)
- T.T. Mnatsakanov, L.I. Pomortseva, V.B. Shuman. Sol. St. Electron., 41, 1871 (1997)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.