Термическая эволюция морфологии, структуры и оптических свойств многослойных нанопериодических систем, полученных путем вакуумного испарения SiO и SiO2
Ершов А.В.1, Чугров И.А.1, Тетельбаум Д.И.1, Машин А.И.1, Павлов Д.А.1, Нежданов А.В.1, Бобров А.И.1, Грачев Д.А.1
1Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
Поступила в редакцию: 10 мая 2012 г.
Выставление онлайн: 20 марта 2013 г.
Методом поочередного осаждения вакуумным испарением SiO и SiO2 из раздельных источников были получены аморфные многослойные нанопериодические структуры (МНС) a-SiOx/SiO2 с периодами 5-10 нм и числом слоев до 64. Исследовано влияние отжига при температурах Ta=500-1100oC на структурные и оптические свойства МНС. Результаты использования просвечивающей электронной микроскопии образцов, отожженных при 1100oC, указали на формирование квазипериодических вертикально упорядоченных массивов нанокристаллов кремния с размерами, соизмеримыми с толщиной слоев a-SiOx исходных МНС. После отжига при 1100oC наноструктуры обладали размернозависимой фотолюминесценцией в области 750-830 нм, связанной с нанокристаллами Si. Результаты по инфракрасному поглощению и комбинационному рассеянию света показали, что термическая эволюция структурно-фазовых состояний в слоях SiOx МНС с увеличением температуры отжига осуществляется через образование аморфных нановключений Si с последующим формированием и ростом нанокристаллов Si.
- L. Pavesi, R. Turan. Silicon Nanocrystals. Fundamentals, Synthesis and Applications (Weinheim, WILEY-VCH Verlag GmbH \& Co. KGaA, 2010)
- M. Zacharias, J. Heitmann, R. Scholz, U. Kahler, M. Schmidt, J. Blasing. Appl. Phys. Lett., 80 (4), 661 (2002)
- T.Z. Lu, M. Alexe, R. Scholz, V. Talalaev, R.J. Zhang, M. Zacharias. J. Appl. Phys., 100, 014 310 (2006)
- А.В. Ершов, И.А. Чугров, Д.И. Тетельбаум, С.С. Андреев, А.И. Белов, Ю.А. Вайнер, А.А. Ершов, И.А. Карабанова, А.И. Машин, А.Н. Михайлов. Вестн. Нижегород. ун-та им. Н.И. Лобачевского, 4, 45 (2009)
- А.В. Ершов, Д.И. Тетельбаум, И.А. Чугров, А.И. Машин, А.Н. Михайлов, А.В. Нежданов, А.А. Ершов, И.А. Карабанова. ФТП, 45 (6), 747 (2010)
- А.Ф. Хохлов, И.А. Чучмай, А.В. Ершов. ФТП, 34 (3), 349 (2000)
- Precision Ion Polishing System: User's Guide (Gatan Inc, 1998)
- Gwyddion --- Free SPM (AFM, SNOM/NSOM, STM, MFM, ...) data analysis software: [сайт]. URL: http://gwyddion.net/ (дата обращения: 10.09.2011)
- L.X. Yi, J. Heitmann, R. Scholz, M. Zacharias. Appl. Phys. Lett., 81 (22), 4248 (2002)
- R.A. Puglisi, C. Vecchio, S. Lombardo, S. Lorenti, M.C. Camalleri. J. Appl. Phys., 108, 023 701 (2010)
- Л.И. Миркин. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов (М., Физматлит, 1961)
- V. Vinciguerra, G. Franz\`o, F. Priolo, F. Iacona, C. Spinella. J. Appl. Phys., 87 (11), 8165 (2000)
- H. Rinnert, M. Vergnat, A. Burneau. J. Appl. Phys., 89, 237 (2001)
- M. Zacharias, D. Dimova-Malinovska, M. Stutzmann. Phil. Mag. B, 73, 799 (1996)
- D.V. Tsu, G. Lucovsky, B.N. Davidson. Phys. Rev. B, 40, 1795 (1989)
- H. Ono, T. Ikarashi, K. Ando, T. Kitano. J. Appl. Phys., 84 (11), 6064 (1998)
- P. Lange. J. Appl. Phys., 66 (1), 201 (1989)
- R.M. Almeida, A.C. Marques, S. Pelliz, G.C. Righini, A. Chiasera, M. Mattarelli, M. Montagna, C. Tosello, R.R. Goncales, H. Portales, S. Chaussedent, M. Ferrari, L. Zampedri. Phil. Mag., 84, 1659 (2004)
- S. Yerci, U. Serincan, I. Dogan, S. Tokay, M. Genisel, A. Aydinli, R. Turan. J. Appl. Phys., 100, 074 301 (2006)
- R. Tsu, H. Shen, M. Dutta. Appl. Phys. Lett., 60 (1), 112 (1992)
- L. Tsybeskov, K.D. Hirschman, S.P. Duttagupta, M. Zacharias, P.M. Fauchet, J.P. McCaffrey, D.J. Lockwood. Appl. Phys. Lett., 72 (1) 43 (1998)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.