Вышедшие номера
Влияние электронного (зарядового) состояния E-ловушек на эффективность их накопления в n-GaAs при облучении
Брудный В.Н.1, Пешев В.В.2
1Сибирский физико-технический институт им. акад. В.Д. Кузнецова Томского государственного университета, Томск, Россия
2Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Томск, Россия
Поступила в редакцию: 14 марта 2002 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2002 г.

При высокоэнергетическом радиационном воздействии в интервале 77-580 K выявлена сложная температурная зависимость эффективности накопления E-ловушек в нейтральной области и области пространственного заряда диодов Шоттки на основе n-GaAs при энергиях атомов отдачи, близких к пороговым энергиям образования радиационных дефектов. Количественно экспериментальные данные описаны в рамках модели метастабильной пары Френкеля, в которой учтены процессы аннигиляции, перезарядки и стабилизации пары Френкеля в материале в зависимости от электронного (зарядового) состояния ее компонент, определяемого положением уровня (квазиуровня) Ферми и температурой образца.