Влияние режима получения образцов и термообработки на локальную структуру халькогенидного полупроводника Ge2Sb2Te5
Гарибова С.Н.1,2, Исаев А.И.1, Мехтиева С.И.1, Атаева С.У.1, Алекперов Р.И.1
1Институт физики Национальной академии наук Азербайджана, Баку, Азербайджан
2Университет Хазар, Департамент физики и электроники, Az Баку, Азербайджан
Email: sqaribova@rambler.ru
Поступила в редакцию: 15 сентября 2021 г.
В окончательной редакции: 23 октября 2021 г.
Принята к печати: 23 октября 2021 г.
Выставление онлайн: 26 декабря 2021 г.
Методами рентгеновской дифракции и рамановской спектроскопии исследованы особенности фазовых переходов "аморфное состояние-кристалл" в зависимости от способа получения образцов и термообработки, а также изменения структуры и ближнего порядка в расположении атомов халькогенидного полупроводника Ge20Sb20.5Te51. Показано, что пленки Ge20Sb20.5Te51, полученные термическим испарением на неподогреваемой подложке, являются аморфными, прошедшие термообработку при 220 и 400oC переходят в кристаллическую фазу c кубической и гексагональной структурой. Определены химические cвязи и основные структурные элементы, образующие матрицу исследованных объектов, а также изменения, происходящие в них при термообработке. Kлючевые слова: халькогенидные полупроводники, локальная структура, фазовый переход, рамановская спектроскопия.
- B.T. Kolomies, N.A. Qoryunova. Techn. Phys. Lett., 25 (6), 984 (1955) [in Russian]
- M. Wuttig, N. Yamada. Nature Materials, 6, 824 (2007)
- W. Welnic, M. Wuttig. Materials Today, 11 (6), 20 (2008)
- D. Lencer, M. Salinga, M. Wuttig. Adv. Mater., 23, 2030 (2011)
- S.N. Garibova, A.I. Isaev, S.I. Mekhtieva, S.U. Ataeva. Semiconductors, 53 (11), 1507 (2019)
- S.U. Ataeva, S.I. Mekhtieva, A.I. Isaev, S.N. Garibova, A.S. Huseynova. Semiconductors, 53, 1637 (2019)
- V. Bragaglia, B. Jenichen, A. Giussani, K. Perumal, H. Riechert, R. Calarco. Appl. Phys., 116, 054913 (2014)
- X. Zemin, C. Chaonan, W. Zhewei, W. Ke, C. Haining, Y. Hui. RSC Advances, 8, 21040 (2018)
- Zhang Ting, Liu Bo, Xia Ji-Lin, Song Zhi-Tang, Feng Song-Lin, Chen Bomy. Chin. Phys. Lett., 21 (4), 741 (2004)
- A.L. Lacaita. Sol. St. Electron., 50, 24 (2006)
- K. Shportko, l. Revutska, O. Paiuk, J. Baran, A. Stronski, A. Gubanova, E. Venger. Optical Mater., (Amst), 73, 489 (2015)
- B. Liu, Z. Song, T. Zhang, S. Feng, B. Chen. Chinese Phys., 13, 1947 (2004)
- E. Cho, S. Yoon, H.R. Yoon, W. Jo. J. Korean Phys. Soc., 48 (6), 1616 (2006)
- V. Bragaglia, K. Holldack, J.E. Boschker, F. Arciprete, E. Zallo, T. Flissikowski, R. Calarco. Sci. Rept., 6, 28560 (2016)
- G.G. Sosso, S. Caravati, R. Mazzarello, M. Bernasconi. Phys. Rev. B, 83, 134201 (2011)
- S.A. Kozyukhin, V.H. Kudoyarova, H.P. Nguyen, A. Smirnov, V. Lebedev. Phys. Status Solidi C, 8 (9), 2688 (2011)
- G. Bulai, O. Pompilian, S. Gurlui, P. Nemec, V. Nazabal, N. Cimpoesu, B. Chazallon, C. Focsa. Nanomaterials, 9, 676 (2019)
- P. Nemec, V. Nazabal, A. Moreac, J. Gutwirth, L. Benes, M. Frumar. Mater. Chem. Phys., 136, 935 (2012)
- J. Tominaga, N. Atoda. Jpn. J. Appl. Phys., 38, L322 (1999)
- S. Kozyukhin, M. Veres, H.P. Nguyen, A. Ingram, V. Kudoyarova. Phys. Procedia, 44, 82 (2013)
- K.S. Andrikopoulos, S.N. Yannopoulos, A.V. Kolobov, P. Fons, J. Tominaga. J. Phys.: Condens. Matter, 18 (2006)
- G. Lucovsky, D.A. Baker, M.A. Paesler, J.C. Phillips. J. Non-Cryst. Sol., 353, 1713 (2007)
- S. Sugai. Phys. Rev. B, 35, 1345 (1987)
- J. Koblar, B. Arlin, G. Shau. Phys. Rev. B, 60, R14985(R) (1999)
- E. Yalon, S. Deshmukh, M. Munoz Rojo, F. Lian, C.M. Neumann, F. Xiong, E. Pop. Sci. Rept., 7, 15360 (2017)
- K.S. Andrikopoulos, S.N. Yannopoulos, A.V. Kolobov, P. Fons, J. Tominaga. J. Phys. Condens. Matter, 18 (2006)
- P. Nеmec, A. Moreac, V. Nazabal, M. Pavlivsta, J. Prikryl, M. Frumar. J. Appl. Phys., 106, 103509 (2009)
- H.R. Yoo, W. Jo, E. Cho, S. Yoon, M. Kim. J. Non-Cryst. Sol., 352, 3757 (2006)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.