Термоэлектрические и мемристивные особенности структур Sb2Te3/Sb2S3/Sb2Te3 и Ag/Sb2Te3/Ag
Science Committee of RA, Grant programs, № 21T-1C150.
Russian-Armenian University, RAU of the Ministry of Education and Science of the Russian Federation, -
Папикян А.1, Арутюнян С.2,1, Агамалян Н.2,1, Овсепян Р.2,1, Хачатурова А.2, Петросян С.2,1, Бадалян Г.2, Кафадарян Е.2,1
1Российско-Армянский университет, Ереван, Армения
2Институт физических исследований Национальной академии наук Армении, Аштарак, Армения
Email: papikyanarman.pap@gmail.com, sergeyhar56@gmail.com, natagham@gmail.com, ruben.ovsepyan@mail.ru, annakhachat@mail.ru, spetrosyan8@gmail.com, gbadalyan@mail.ru, ekafadaryan@gmail.com
Поступила в редакцию: 11 ноября 2021 г.
В окончательной редакции: 16 ноября 2021 г.
Принята к печати: 16 ноября 2021 г.
Выставление онлайн: 26 декабря 2021 г.
Получены однослойные пленки Sb2Te3 и трехслойные структуры Sb2Te3/Sb2S3/Sb2Te3 методом термического вакуумного напыления и исследованы их термоэлектрические характеристики в широком диапазоне температур (5-350 K). Показано, что проводимость структуры Sb2Te3/Sb2S3/Sb2Te3 имеет полупроводниковый характер, удельное сопротивление превышает на порядок сопротивление пленки Sb2Te3; коэффициент Зеебека Sb2Te3/Sb2S3/Sb2Te3 соответственно в 1.5 и 3 раза превышает коэффициент Зеебека пленки и монокристаллического Sb2Te3. Вольт-амперные характеристики пленки Sb2Te3 проявляют мемристивные свойства с униполярным резистивным переключением, тогда как структуру Sb2Te3/Sb2S3/Sb2Te3 можно рассматривать как мемристор с параллельно подключенной емкостью. Ключевые слова: Sb2S3, Sb2Te3, пленки, ВАХ, коэффициент Зеебека, мемристор.
- Terry M. Tritt. Annu. Rev. Mater. Res., 41, 433 (2011)
- H.J. Goldsmid. Introduction to Thermoelectricity (Springer Series in Mater. Sci., 2010) p. 60
- S.V. Ovsyannikov, V.V. Shchennikov. Chem. Mater., 22, 635 (2010)
- Doo Seok Jeong, Reji Thomas, R.S. Katiyar, J.F. Scott, H. Kohlstedt, A. Petraru, Cheol Seong Hwang. Rep. Progr. Phys., 75, 076502 (2012)
- R.B. Jacobs-Gedrim, M.T. Murphy, F. Yang, N. Jain, M. Shanmugam, E. Sang Song, Y. Kandel, P. Hesamaddin, H. Yu Yu, M.P. Anantram, D.B. Janes, B. Yu. Appl. Phys. Lett., 112, 133101 (2018)
- J.J. Zhang, N. Liu, H.J. Sun, P. Yan, Y. Li, S.J. Zhong, S. Xie, R.J. Li, X.S. Miao. J. Electron. Mater., 45, 1154 (2016)
- Z. Lv, Y. Zhou, S.-T. Han, V.A.L. Roy. Materials Today, 21, 537 (2018)
- C. Du, W. Ma, T. Chang, P. Sheridan, W.D. Lu. Adv. Funct. Mater., 25, 4290 (2015)
- Y.V. Pershin, M. Di Ventra. Neural Netw., 23, 881 (2010)
- B. Lv, S. Hu, W.Li, X.Di, L. Feng, J. Zhang, L. Wu, Y. Cai, B. Li, Zh. Lei. Int. J. Photoenergy, 2010, Article ID 476589 (2010)
- Cheol-Min Park, Yoon Hwa, Nark-Eon Sung, Hun-Joon Sohn. J. Mater. Chem., 20, 1097 (2010)
- M.A. Popescu. Non-Crystalline Chalcogenicides (Springer, Solid-State Science and Technology Library, 2000). ISBN: 9780792366485.
- Wenwen Zheng, Peng Bi, Haochen Kang, Wei Wei, Fengming Liu, Jing Shi, Luxi Peng, Ziyu Wang, Rui Xiong. Appl. Phys. Lett., 105, 023901 (2014)
- G.J. Snyder, E.S. Toberer. Nature Mater., 7, 105 (2008)
- Y.K. Kuo, K.M. Sivakumar, C.A. Su, C.N. Ku, S.T. Lin, A.B. Kaiser, J.B. Qiang, Q. Wang, C. Dong. Phys. Rev. B, 74, 014208 (2006)
- V.V. Pryadun, D.V. Louzguine-Luzgin, L.V. Shvanskaya, A.N. Vasilieva. JETP Lett., 101, 465 (2015)
- Y.R. Guo, F. Dong, C. Qiao, J.J. Wang, S.Y. Wang, Ming Xu, Y.X. Zheng, R.J. Zhang, L.Y. Chen, C.Z. Wang, K.M. Ho. Phys. Chem. Chem. Phys., 20, 11768 (2018)
- А.А. Шерченков, С.А. Козюхин, П.И. Лазаренко, А.В. Бабич, Н.А. Богословский, И.В. Сагунова, Е.Н. Редичев. ФТП, 51, 154 (2017)
- Ю.В. Храповицкая, Н.Е. Маслова, М.Л. Занавескин. Наука и образование: науч. изд. МГТУ им. Н.Э. Баумана, 12, 329 (2013)
- B. Sun, Y. Chen, M. Xiao, G. Zhou, Sh. Ranjan, W. Hou, X. Zhu, Y. Zhao, S.A.T. Redfern, Y.N. Zhou. Nano Lett., 19, 6461 (2019)
- B. Sun, M. Xiao, G. Zhou, Z. Ren, Y.N. Zhou, Y.A. Wu. Mater. Today Adv., 6, 100056 (2020)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.