Исследования физических явлений в полупроводниковых наноструктурах с использованием планарно-неоднородных слоев 1. Фотолюминесценция
Хабаров Ю.В.1
1Институт радиотехники и электроники Российской академии наук, Москва, Россия
Поступила в редакцию: 29 августа 2002 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2003 г.
Предложен и экспериментально продемонстрирован новый спектрально-корреляционный метод исследования полупроводниковых структур, предполагающий использование планарно-неоднородных слоев. Посредством фотолюминесцентной спектроскопии при 77 K исследован образец, выращенный методом молекулярно-лучевой эпитаксии и содержащий AlxGa1-xAs-GaAs и GaAs-InyGa1-yAs квантовые ямы и модуляционно-легированный AlxGa1-xAs-GaAs гетеропереход. Полученные зависимости спектров фотолюминесценции от параметров неоднородности позволили характеризовать процессы перераспределения носителей в структуре и обнаружить ряд особенностей фотолюминесценции узких GaAs-квантовых ям. Экспериментальные значения энергии оптических переходов согласуются с теоретическими оценками во всем диапазоне вариации параметров, определяемом неоднородностью, и могут служить основой для оценки параметров полупроводниковой структуры. Исследование показало высокую информативность примененного подхода благодаря возможности прецизионной вариации технологически формируемых параметров структуры в пределах одного образца.
- Ю.В. Хабаров. Патент РФ N 2168238 (2001)
- M.A. Herman, D. Bingerg, J. Christen. J. Appl. Phys., 70 (2), R1 (1991)
- J. Wagner, A. Fischer, K. Ploog. Phys. Rev. B, 42, 7280 (1990)
- L. Pavesi, M. Guzzi. J. Appl. Phys., 75 (10), 4779 (1994)
- С.В. Евстигнеев, Р.М. Имамов, А.А. Ломов, Ю.Г. Садофьев, Ю.В. Хабаров, М.А. Чуев, Д.С. Шипицин. ФТП, 34, 719 (2000)
- G. Bastard, C. Delalande, Y. Guldner, P. Voison. In: Advances in Electronics and Electron Physics, ed. by P.W. Hawkes (Academic Press, 1988) v. 72
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.