Методом рентгеновской дифракции изучена структура частиц нанопористого углерода, полученного из карбидов различных материалов (SiC, TiC, Mo₂C и B₄C) путем химического удаления карбидообразующих элементов. На измеренных дифрактограммах регистрируются рефлексы в области двойного угла отражения 2theta=23-26^o и 42-44^o. Анализ углового положения, полуширины и интенсивности этих пиков показал, что первый из них есть рефлекс от базисных плоскостей искаженных графитоподобных кристаллических фрагментов, а второй может быть обусловлен двумерной дифракцией (101) от осколков графеновых плоскостей в остальной массе образца. Присутствие графитоподобных кристаллитов зависит от способа приготовления образца. Их размер колеблется в пределах 40-100 Angstrem, а объемная доля составляет величину от 5 до 12% для разных образцов.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.