Вышедшие номера
Исследование кристаллического состояния слоев молекулярно-лучевой эпитаксии гетероструктур (013)HgCdTe/CdTe/ZnTe/GaAs методом генерации второй гармоники
Переводная версия: 10.21883/SC.2022.08.54114.31
Министерство образования и науки России , АААА-А20-120102190007-5
Дворецкий С.А. 1,2, Ступак М.Ф. 3, Михайлов Н.Н. 1,4, Макаров С.Н. 3, Елесин А.Г.3, Верхогляд А.Г. 3
1Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия
2Национальный исследовательский Томский государственный университет, Томск, Россия
3Конструкторско-технологический институт научного приборостроения СО РАН, Новосибирск, Россия
4Новосибирский государственный университет, Новосибирск, Россия
Email: dvor@isp.nsc.ru, stupak@tdisie.nsc.ru, mikhailov@isp.nsc.ru, makarov@tdisie.nsc.ru, verhoglyad@tdisie.nsc.ru
Поступила в редакцию: 2 марта 2022 г.
В окончательной редакции: 25 марта 2022 г.
Принята к печати: 25 марта 2022 г.
Выставление онлайн: 17 июля 2022 г.

Проведено исследование кристаллического совершенства слоев HgCdTe-гетероструктур, выращенных на подложках (013)GaAs с буферными слоями ZnTe и CdTe, поворота ориентации в плоскости (угол φ) и перпендикулярном направлении роста (угол theta) методом генерации второй гармоники. Наблюдалось изменение угла φ для слоев CdTe от ориентации подложки GaAs и его немонотонное изменение по толщине в слое КРТ постоянного состава и широкозонных варизонных слоях на его границах. Наблюдалось увеличение угла theta при выращивании верхнего варизонного широкозонного слоя КРТ. Абсолютное значение угла theta может быть использовано для качественной оценки кристаллического совершенства слоев HgCdTe. Ключевые слова: кристаллы класса сфалерита, вторая гармоника, азимутальные угловые зависимости, кристаллическое совершенство, гетероструктуры CdxHg1-xTe.