Моделирование зонной структуры сверхрешеток на основе "разбавленных" нитридов
Российский научный фонд, Проведение фундаментальных научных исследований и поисковых научных исследований отдельными научными группами, 21-19-00718
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Приоритет 2030
Дашков А.С.
1, Костромин Н.А.
2, Бабичев А.В.
3, Горай Л.И.
1, Егоров А.Ю.
11Санкт-Петербургский национальный исследовательский Академический университет имени Ж.И. Алфёрова Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
2Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Санкт-Петербург, Россия
3Университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия
Email: dashkov.alexander.om@gmail.com
Поступила в редакцию: 30 сентября 2022 г.
В окончательной редакции: 10 марта 2023 г.
Принята к печати: 2 мая 2023 г.
Выставление онлайн: 23 мая 2023 г.
Предложен подход и реализован численный алгоритм расчета энергии межзонных переходов для полупроводниковых сверхрешеток на основе "разбавленных" нитридов. С помощью разработанного алгоритма проведены численные эксперименты по моделированию характеристик структур на основе InGaAsN квантовых ям и подтверждена корректность реализованного подхода за счет сравнения с экспериментальными данными. Приведен метод оценки параметра гибридизации для структур на основе InGaAsN квантовых ям с долей индия <30%. По результатам численных расчетов предложены параметры слоев сверхрешеток In(Ga)As/GaAsN для реализации активных областей спектрального диапазона 1.3 мкм. Ключевые слова: сверхрешетки, разбавленные нитриды, межзонные переходы, численное моделирование, параметр гибридизации.
- C. Skierbiszewski, P. Perlin, P. Wisniewski, T. Suski, J.F. Geisz, K. Hingerl, W. Jantsch, D.E. Mars, W. Walukiewicz. Phys. Rev. B, 65 (3), 035207 (2001)
- A. Erol. Dilute III-V Nitride Semiconductors and Material Systems (Berlin-Heidelberg-N. Y., Springer Verlag, 2008)
- T. Sarmiento, Li Zhao, P. Moser, T. Li, Y. Huo, J.S. Harris. IEEE Phot. Techn. Lett., 31 (20), 1607 (2019)
- A.S. Gudovskikh, A.A. Lazarenko, E.V. Pirogov, M.S. Sobolev, K.S. Zelentsov, I.A. Morozov, A.Yu. Egorov. Semiconductors, 50 (5), 652 (2016)
- M. Henini. Dilute nitride semiconductors (Amsterdam--Boston--Heidelberg--London--N. Y.--Oxford--Paris--San Diego--San Francisco--Singapore--Sydney--Tokyo, Elsevier, 2005)
- Y. Onishi, N. Saga, K. Koyama, H. Doi, T. Ishizuka, T. Yamada, K. Fujii, H. Mori, J.Hashimoto, M. Shimazu, A. Yamaguchi, T. Katsuyama. IEEE J. Select. Topics Quant. Electron., 15 (3), 838 (2009)
- J. Vukusic, P. Modh, A. Larsson, M. Hammar, S. Mogg, U. Christiansson, V. Oscarsson, E. Odling, J. Malmquist, M. Ghisoni, P. Gong, E. Griffiths, A. Joel. Electron. Lett., 39 (8), 662 (2003)
- H. Riechert, A. Ramakrishnan, G. Steinle. Semicond. Sci. Techn., 17 (8), 892 (2002)
- G. Steinle, H. Riechert, A.Yu. Egorov. Electron. Lett., 37 (2), 93 (2001)
- M. G ebski, D. Dontsova, N. Haghighi, K. Nunna, R. Yanka, A. Johnson, R. Pelzel, J.A. Lott. OSA Continuum, 3 (7), 1952 (2020)
- A. Babichev, S. Blokhin, A. Gladyshev, L. Karachinsky, I. Novikov, A. Blokhin, M. Bobrov, N. Maleev, V. Andryushkin, E. Kolodeznyi, D. Denisov, N. Kryzhanovskaya, K. Voropaev, V. Ustinov, A. Egorov, H. Li, S. Tian, S. Han, G. Sapunov, D. Bimberg. IEEE Phot. Techn. Lett., 35 (6), 297 (2023)
- A.V. Babichev, L.Y. Karachinsky, I.I. Novikov, A.G. Gladyshev, S.A. Blokhin, S. Mikhailov, V. Iakovlev, A. Sirbu, G. Stepniak, L. Chorchos, J.P. Turkiewicz. IEEE J. Quant. Electron., 53 (6), 1 (2017)
- S. Blokhin, A. Babichev, A. Gladyshev, L. Karachinsky, I. Novikov, A. Blokhin, S. Rochas, D. Denisov, K. Voropaev, A. Ionov, N. Ledentsov, A. Egorov. Electron. Lett., 57, 697 (2021)
- S.A. Blokhin, A.V. Babichev, A.G. Gladyshev, L.Ya. Karachinsky, I.I. Novikov, A.A. Blokhin, M.A. Bobrov, N.A. Maleev, V.V. Andryushkin, D.V. Denisov, K.O. Voropaev, I.O. Zhumaeva, V.M. Ustinov, A.Yu. Egorov, N.N. Ledentsov. IEEE J. Quant. Electron., 58 (2), 2400115 (2022)
- S.A. Blokhin, A.V. Babichev, A.G. Gladyshev, I.I. Novikov, A.A. Blokhin, M.A. Bobrov, N.A. Maleev, V.V. Andryushkin, D.V. Denisov, K.O. Voropaev, V.M. Ustinov. Opt. Eng., 61 (9), 096109 (2022)
- N.V. Kryzhanovskaya, A.I. Likhachev, S.A. Blokhin, A.A. Blokhin, E.V. Pirogov, M.S. Sobolev, A.V. Babichev, A.G. Gladyshev, L.Ya. Karachinsky, I.I. Novikov, V.V. Andryushkin, D.V. Denisov, A.Yu. Egorov. Laser Phys. Lett., 19 (7), 075801 (2022)
- M. Albrecht, V. Grillo, T. Remmele, H.P. Strunk, A.Yu. Egorov, Gh. Dumitras, H. Riechert, A. Kaschner, R. Heitz, A. Hoffmann. Appl. Phys. Lett., 81 (15), 2719 (2002)
- A.S. Dashkov, L.I. Goray. J. Phys.: Conf. Ser., 1410, 012085 (2019)
- A.S. Dashkov, L.I. Goray. J. Semicond., 54, 1823 (2020)
- C. Jirauschek, T. Kubis. Appl. Phys. Rev., 1 (1), 011307 (2014)
- I. Vurgaftman, J.R. Meyer, L.R. Ram-Mohan. J. Appl. Phys., 89 (11), 5815 (2001)
- A.R. Denton, N.W. Ashcroft. Phys. Rev. A, 43 (6), 3161 (1991)
- А.Ю. Егоров. Автореф. докт. дис. (СПб., СПбАУ РАН, 2011)
- W. Shan, W. Walukiewicz, J.W. Ager III, E.E. Haller, J.F. Geisz, D.J. Friedman, J.M. Olson, Sarah R. Kurtz. J. Appl. Phys., 86 (4), 2349 (1999)
- Y.T. Lin, T.C. Ma, T.Y. Chen, H.H. Lin. Appl. Phys. Lett., 93 (17), 171914 (2008)
- A. Aho, M. Korpijarvi, R. Isoahoa, P. Malinen, A. Tukiainen, M. Honkanen, M. Guina. J. Cryst. Growth, 438, 49 (2016)
- R. Isoaho, A. Aho, A. Tukiainen, T. Salminen, M. Guina. J. Cryst. Growth, 584, 126574 (2022)
- R.J. Potter, N. Balkan. J. Phys. Condens. Matter, 16 (31), S3387 (2004)
- D. Alexandropoulos, M.J. Adams. IEE Proc. Optoelectron., 150 (2), 105 (2003)
- I. Vurgaftman, J.R. Meyer. J. Appl. Phys., 94 (6), 3675 (2003)
- S.A. Choulis, S. Tomic, E.P. O'Reilly, T.J.C. Hosea. Solid State Commun., 125 (3-4), 155 (2003)
- S.A. Choulis, T.J.C. Hosea, S. Tomic, M. Kamal-Saadi, A.R. Adams, E.P. O'Reilly, B.A. Weinstein, P.J. Klar. Phys. Rev. B, 66 (16), 165321 (2002)
- Z. Pan, L.H. Li, Y.W. Lin, B.Q. Sun, D.S. Jiang, W.K. Ge. Appl. Phys. Lett., 78 (15), 2217 (2001)
- A.Yu. Egorov, V.A. Odnoblyudov, N.V. Krizhanovskaya, V.V. Mamutin, V.M. Ustinov. Semiconductors, 36 (12), 1355 (2002)
- A. Polimeni, M. Capizzi, M. Geddo, M. Fischer, M. Reinhardt, A. Forchel. Phys. Rev. B, 63 (19), 195320 (2001)
- S.A. Choulis, T.J.C. Hosea, S. Tomic, M. Kamal-Saadi, B.A. Weinstein, E.P. O'Reilly, A.R. Adams, P.J. Klar. Phys. Status Solidi B, 235 (2), 384 (2003)
- H.D. Sun, M.D. Dawson, M. Othman, J.C.L. Yong, J.M. Rorison, P. Gilet, L. Grenouillet, A. Million. Appl. Phys. Lett., 82 (3), 376 (2003)
- W. Shan, W. Walukiewiez, J.W. Ager, E.E. Haller, J.F. Geisz, D.J. Friedman, J.M. Olson, S.R. Kurtz. Phys. Rev. Lett., 82 (6), 1221 (1999)
- P.J. Klar, H. Gruning, W. Heimbrodt, J. Koch, W. Stolz, P.M.A. Vicente, A.M. Kamal Saadi, A. Lindsay, E.P. O'Reilly. Phys. Status Solidi, 223 (1), 163 (2001)
- A. Lindsay, E.P. O'Reilly. Solid State Commun., 112 (8), 443 (1999)
- W. Shan, W. Walukiewicz, K.M. Yu, J.W. III Ager, E.E. Haller, J.F. Geisz, D.J. Friedman, J.M. Olson, S.R. Kurtz, H.P. Xin, C.W. Tu. Phys. Status Solidi, 223 (1), 75 (2001)
- I. Suemune, K. Uesugi, W. Walukiewicz. Appl. Phys. Lett., 77 (19), 3021 (2000)
- P. Perlin, P. Wisniewski, C. Skierbiszewski, T. Suski, E. Kaminska, S.G. Subramanya, E.R. Weber, D.E. Mars, W. Walukiewicz. Appl. Phys. Lett., 76 (10), 1279 (2000)
- C. Skierbiszewski, P. Perlin, P. Wisniewski, T. Suski, W. Walukiewicz, W. Shan, J.W. III Ager, E.E. Haller, J.F. Geisz, D.J. Friedman, J.M. Olson, S.R. Kurtz. Phys. Status Solidi, 216 (1), 135 (1999)
- P.J. Klar, H. Gruning, J. Koch, S. Schafer, K. Volz, W. Stolz, W. Heimbrodt, A.M. Kamal Saadi, A. Lindsay, E.P. O'Reilly. Phys. Rev. B, 64 (12), 121203 (2001)
- X. Yang, M.J. Jurkovic, J.B. Heroux, W.I. Wang. Appl. Phys. Lett., 75 (2), 178 (1999)
- E.D. Jones, N.A. Modine, A.A. Allerman, I.J. Fritz, S.R. Kurtz, A.F. Wright, S.T. Tozer, X. Wei. In Light-Emitting Diodes: Research, Manufacturing, and Applications III (San Jose, California, USA, 1999) v. 3621, p. 52
- M. Kondow, T. Kitatani, S. Nakatsuka, M.C. Larson, K. Nakahara, Y. Yazawa, M. Okai, K. Uomi. IEEE J. Select. Topics Quant. Electron., 3 (3), 719 (1997)
- S. Tomic, E. O'Reilly, R. Fehse, S. Sweeney, A. Adams, A. Andreev, S. Choulis, T. Hosea, H. Riechert. IEEE J. Select. Topics Quant. Electron., 9 (5), 1228 (2003)
- A. Egorov, D. Bernklau, B. Borchert, S. Illek, D. Livshits, A. Rucki, M. Schuster, A. Kaschner, A. Hoffmann, Gh. Dumitras, M. Amann, H. Riechert. J. Cryst. Growth, 227-228 (1-4), 545 (2001)
- H. Riechert, A.Yu. Egorov, D. Livshits, B. Borchert, S. Illek. Nanotechnology, 11 (4), 201 (2000)
- R. Johnson, V. Blasingame, J. Tatum, B.S. Chen, D. Mathes, J. Orenstein, T.Y. Wang, J. Kim, Ho-Ki Kwon, J.H. Ryou, G. Park, E. Kalweit, H. Chanhvongsak, M. Ringle, T. Marta, J. Gieske. Proc. SPIE, 4994, 222 (2003)
- G.L. Bir, G.E. Pikus. Symmetry and Strain-Induced Effects in Semiconductors (N. Y., Wiley, 1974)
- J.D. Cooper, A. Valavanis, Z. Ikonic, P. Harrison, J.E. Cunningham. J. Appl. Phys., 108 (11), 113109 (2010)
- C. Jirauschek. IEEE J. Quant. Electron., 45 (9), 1059 (2009)
- А.В. Бабичев, Е.В. Пирогов, М.С. Соболев, Д.В. Денисов, H.А. Фоминых, А.И. Баранов, А.С. Гудовских, И.А. Мельниченко, П.А. Юнин, В.Н. Неведомский, М.В. Токарев, Б.Я. Бер, А.Г. Гладышев, Л.Я. Карачинский, И.И. Новиков, А.Ю. Егоров. ФТП, 56 (10), 1002 (2022)
- A.V. Babichev, E.V. Pirogov, M.S. Sobolev, D.V. Denisov, H.A. Fominykh, A.I. Baranov, A.S. Gudovskikh, I.A. Melnichenko, P.A. Yunin, V.N. Nevedomsky, M.V. Tokarev, B.Ya. Ber, A.G. Gladyshev, L.Ya. Karachinsky, I.I. Novikov, A.Yu. Egorov. Semiconductors, 56 (10), 782 (2022)
- M.M. AI-Jassim, M.M. Goral, J.P. Sheldon, P. Jones, K.M. MRS Online Proc. Libr. (OPL), 144, 183 (1988)
- A.M. Mintairov, T.H. Kosel, J.L. Merz, P.A. Blagnov, A.S. Vlasov, V.M. Ustinov, R.E. Cook. Phys. Rev. Lett., 87 (27), 277401 (2001)
- A. Babichev, S. Blokhin, E. Kolodeznyi, L. Karachinsky, I. Novikov, A.Egorov, S.C. Tian, D. Bimberg. Photonics, 10 (3), 268 (2023)
- J. Jewell, L. Graham, M. Crom, K. Maranowski, J. Smith, T. Fanning, M. Schnoes. Phys. Status Solidi C, 5 (9), 295 (2008).
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.