Вышедшие номера
Особенности структуры поверхности и поверхностного электронного транспорта в коррелированном топологическом изоляторе SmB6
Переводная версия: 10.61011/SC.2023.04.56418.02k
Russian Science Foundation , https://rscf.ru/project/22-22-00990, 22-22-00990
Артёмов Е.А.1,2, Мантузов А.В. 1,2, Журкин В.С.1, Божко А.Д. 1, Кудрявцев О.С. 1, Андрюшечкин Б.В. 1, Шевлюга В.М. 1, Шицевалова Н.Ю.3, Филипов В.Б.3, Глушков В.В. 1
1Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН, Москва, Россия
2ООО АЕМ Технолоджис", Москва, Россия
3Институт проблем материаловедения им. И.Н. Францевича Национальной академии наук Украины, Киев, Украина
Email: artpoliofan@mail.ru, antoniovm@mail.ru, dok5555@mail.ru, bozhko@lt.gpi.ru, leolegk@gmail.com, andrush@kapella.gpi.ru, shevlyg@kapella.gpi.ru, nshitsevalova@gmail.com, glushkov@lt.gpi.ru
Поступила в редакцию: 5 мая 2023 г.
В окончательной редакции: 29 июня 2023 г.
Принята к печати: 6 июля 2023 г.
Выставление онлайн: 14 июля 2023 г.

Разработан метод химико-механического полирования поверхности монокристаллов гексаборида самария SmB6 композициями на базе аморфных частиц кремнезема нанометрового размера. Показано, что метод химико-механического полирования позволяет достичь шероховатости поверхности монокристаллов SmB6 для бездефектного участка со среднеквадратичным отклонением профиля, не превышающим 0.8 нм. Обсуждается влияние метода химико-механического полирования на структурные и электронные свойства поверхностей (100) и (110) монокристаллических образцов SmB6. Ключевые слова: гексаборид самария, химико-механическое полирование, поверхностная проводимость, топологический изолятор. DOI: 10.21883/FTP.2023.04.55891.02k