Физика и техника полупроводников

Авторам

Правила оформления публикаций

Вышедшие номера

2024
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2023
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9
2022
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2021
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2020
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2019
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2018
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13
2017
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2016
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2015
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2014
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2013
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2012
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2011
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2010
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2009
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2008
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2007
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2006
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2005
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2004
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2003
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2002
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2001
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2000
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1999
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1998
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1997
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1996
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1995
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1994
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1993
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1992
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1991
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1990
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1989
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1988
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Токовая неустойчивость с S-образной вольт-амперной характеристикой в слоях металл-полимерного комплекса полиамидокислоты с Tb⁺²

Лебедев Э.А.¹, Гойхман М.Я.², Цэндин К.Д.¹, Подешво И.В.², Теруков Е.И.¹, Кудрявцев В.В.²

¹Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия Ioffe Institute, St. Petersburg, Russia

²Институт высокомолекулярных соединений Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия Institute of Macromolecular Compounds, Russian Academy of Sciences, St. Petersburg, Russia

Institute of Macromolecular Compounds, Russian Academy of Sciences, St. Petersburg, Russia

Поступила в редакцию: 30 декабря 2003 г.

Выставление онлайн: 20 августа 2004 г.

PDF версия

Проявление токовой неустойчивости в виде S-образной вольт-амперной характеристики было обнаружено в тонких пленках металл-полимерного комплекса полиамидокислоты с Tb⁺². Характеристики токовой неустойчивости сравнимы с характеристиками эффекта переключения в халькогенидных стеклообразных полупроводниках. Происхождение токовой неустойчивости в металл-полимерном комплексе может быть связано с электронно-тепловым переключением. Пороговое напряжение и ток в пленках толщиной ~ 0.1 мкм составляют 3-7 В и (2-1)· 10^-2 A/см² соответственно.

J.H. Burroughes, C.A. Jones, R.H. Friend. Nature, 335, 137 (1988)
D.D.C. Bradley. Synth. Met., 54, 401 (1993)
Э.А. Лебедев, М.Я. Гойхман, М.Е. Компан, В.Х. Кудоярова, И.В. Подешво, Е.И. Теруков, В.В. Кудрявцев. ФТП, 37, 844 (2003)
S. Karg, M. Meir, W. Riess. J. Appl. Phys., 82, 1951 (1997)
A. Rose. Concepts in photoconductivity and allied problems (N. Y.--London, Interscience Publishers, 1963)
I.L. Hartke. Phys. Rev., 125, 1177 (1962)
Б.Т. Коломиец, Э.А. Лебедев. РЭ, 8, 2097 (1963)
S.R. Ovshinshky. Phys. Rev. Lett., 21, 1450 (1968)
Б.Т. Коломиец, Э.А. Лебедев, И.А. Таксами. ФТП, 3, 731 (1969)
Б.Т. Коломиец, Э.А. Лебедев, К.Д. Цэндин. ФТП, 5, 1568 (1971)
Th. Frauenheim, C. Hamann, M. Muller. Phys. St. Sol. (a), 86, 735 (1984)
В.М. Архангородский, А.Н. Ионов, В.М. Тучкевич, И.С. Шлимак. Письма ЖЭТФ, 51, 56 (1990)
I. Shlimak, M.S. Shur. 23 Int. Conf. Phys. Semicond., ed. by M. Scheffler, R. Zimmermann (Singapore, World Scientific, 1996) p. 3347
Н.А. Поклонский, Е.Ф. Кисляков, Д.И. Сагайдак, А.И. Сягло, Г.Г. Федорук. Письма ЖТФ, 27 (5), 17 (2001)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель