Сильноточные низковольтные ключи для импульсов нс-длительности на основе тиристорных гомо- и гетероструктур (Al)GaAs/GaAs
Слипченко С.О.
1, Подоскин А.А.1, Шушканов И.В.1, Крючков В.А.1, Ризаев А.Э.1, Кондратов М.И.1, Гришин А.Е.1, Пихтин Н.А.1, Багаев Т.А.1,2, Светогоров В.Н.2, Ладугин М.А.2, Мармалюк А.А.2, Симаков В.А.2
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2"НИИ "Полюс" им. М.Ф. Стельмаха", Москва, Россия
Email: SergHPL@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 17 октября 2023 г.
В окончательной редакции: 3 ноября 2023 г.
Принята к печати: 3 ноября 2023 г.
Выставление онлайн: 30 декабря 2023 г.
Разработан ряд низковольтных тиристорных токовых ключей на основе гомо- и гетероструктур (Al)GaAs/GaAs с областью объемного заряда, сформированной в слабо легированном слое базы p-GaAs. Исследованы особенности переходных процессов в режиме генерации импульсов наносекундной длительности. Показано, что использование широкозонного барьера на основе AlGaAs на границе n-эмиттер/p-база позволяет снизить минимальную амплитуду тока управления с 30 до 3 мА, а время задержки включения может быть сокращено до 6 нс. Для разработанных тиристорных ключей было продемонстрировано минимальное время переходного процесса 3.7-3.9 нс при работе в контуре с конденсатором емкостью 1 нФ. В цепи с резистивной нагрузкой номиналом 1О м тиристорные ключи обеспечивали пиковый ток 17.5 А при длительности импульса 3.7 нс. Ключевые слова: гимотиристор, гетеротиристор, токовый ключ, импульс тока, гетероструктура AlGaAs/GaAs, полупроводниковая гомоструктура.
- A. Klehr, A. Liero, H. Christopher, H. Wenzel, A. Maab dorf, P. Della Casa, J. Fricke, A. Ginolas, A. Knigge. Semicond. Sci. Technol., 35, 065016 (2020). DOI: 10.1088/1361-6641/ab8397
- N. Ammouri, H. Christopher, J. Fricke, A. Ginolas, A. Liero, A. Maab dorf, H. Wenzel, A. Knigge. Electron. Lett., 59, e12680 (2023). DOI: 10.1049/ell2.12680
- I.A. Prudaev, S.N. Vainshtein, M.G. Verkholetov, V.L. Oleinik, V.V. Kopyev. IEEE Trans. Electron Dev., 68, 57 (2020). DOI: 10.1109/TED.2020.3039213
- S. Vainshtein, G. Duan, T. Rahkonen, Z. Taylor, V. Zemlyakov, V. Egorkin, T. Skotnicki, W. Knap. Results Phys., 19, 103509 (2020). DOI: 10.1016/j.rinp.2020.103509
- S. Vainshtein, V. Zemlyakov, V. Egorkin, A. Maslevtsov, A. Filimonov. IEEE Trans. Power Electron., 34, 3689 (2018). DOI: 10.1109/TPEL.2018.2853563
- S.O. Slipchenko, A.A. Podoskin, O.S. Soboleva, N.A. Pikhtin, T.A. Bagaev, M.A. Ladugin, A.A. Marmalyuk, V.A. Simakov, I.S. Tarasov. J. Appl. Phys., 121, 054502 (2017). DOI: 10.1063/1.4975411
- S.O. Slipchenko, A.A. Podoskin, O.S. Soboleva, N.A. Pikhtin, T.A. Bagaev, M.A. Ladugin, A.A. Marmalyuk, V.A. Simakov, I.S. Tarasov. Opt. Express, 24, 16500 (2016). DOI: 10.1364/OE.24.016500
- S.O. Slipchenko, A.A. Podoskin, O.S. Soboleva, D.A. Veselov, V.V. Zolotarev, N.A. Pikhtin, T.A. Bagaev, M.A. Ladugin, A.A. Marmalyuk, V.A. Simakov, I.S. Tarasov. IEEE Trans. Electron Dev., 63, 3154 (2016). DOI: 10.1109/TED.2016.2582700
- O.S. Soboleva, V.S. Golovin, V.S. Yuferev, P.S. Gavrina, N.A. Pikhtin, S.O. Slipchenko, A.A. Podoskin. Semiconductors, 54, 575 (2020). DOI: 10.1134/S1063782620050140
- S.O. Slipchenko, A.A. Podoskin, V.S. Golovin, M.G. Rastegaeva, N.V. Voronkova, N.A. Pikhtin, T.A. Bagaev, M.A. Ladugin, A.A. Marmalyuk, V.A. Simakov. IEEE Phot. Techn. Lett., 33 (1), 11 (2020). DOI: 10.1109/LPT.2020.3040026
- S.O. Slipchenko, A.A. Podoskin, V.V. Zolotarev, L.S. Vavilova, A.Yu. Leshko, M.G. Rastegaeva, I.V. Miroshnikov, I.S. Shashkin, N.A. Pikhtin, T.A. Bagaev, M.A. Ladugin, A.A. Padalitsa, A.A. Marmalyuk, V.A. Simakov. Bull. Lebedev Phys. Inst., 50, S527 (2023). DOI: 10.3103/S1068335623170141
- S. Slipchenko, A. Podoskin, O. Soboleva, N. Pikhtin, I. Tarasov, V. Yuferev. Proc. Physics and Simulation of Optoelectronic Devices XXIV (SPIE OPTO, San Francisco, California, US, 2016) 97420I. DOI: 10.1117/12.2212583
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.