Белогорохов А.И.1, Гаврилов С.А.2, Белогорохов И.А.3, Тихомиров А.А.2
1ФГУП "Гиредмет", Москва, Россия
2Московский государственный институт электронной техники (Технический университет), Москва, Россия
3Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Москва, Россия
Поступила в редакцию: 30 марта 2004 г.
Выставление онлайн: 20 января 2005 г.
Исследованы оптические свойства слоев пористого GaAs, полученных методом электрохимического травления монокристаллических пластин GaAs(100) n- и p-типа проводимости. Показано, что форма нанокристаллов, их средний диаметр и поверхностные состояния зависят от типа проводимости исходного кристалла. Обнаружено смещение пиков, соответствующих основным оптическим фононам, в низкочастотную область спектров комбинационного рассеяния света. Значения частот колебаний поверностных фононов, полученные из спектров комбинационного рассеяния света и спектров отражения в инфракрасном диапазоне длин волн, совпадают. При переходе от объемного GaAs к его пористой модификации изменяются формы спектральных зависимостей коэффициента отражения в области фононного резонанса, что обусловлено появлением дополнительных осцилляторов, связанных с пространственно ограниченными решеточными колебаниями в нанокристаллах GaAs. Методом атомно-силовой микроскопии проведено исследование морфологии поверхности образцов пористого GaAs, полученных на подложках n-типа проводимости. Наблюдался наноразмерный рельеф поверхности. Оценки значений среднего диаметра нанокристаллов GaAs, сделанные по результатам комбинационного рассеяния света, инфракрасной спектроскопии, фотолюминесценции и атомно-силовой микроскопии, хорошо согласуются друг с другом.
- D.J. Lockwood, P. Schmuki, H.J. Labbe, J.W. Fraser. Physica E, 4, 102 (1999)
- Н.С. Аверкиев, Л.П. Казакова, Э.А. Лебедев, Ю.В. Рудь, А.Н. Смирнов, Н.Н. Смирнова. ФТП, 34 (6), 757 (2000)
- Д.Н. Горячев, О.М. Сресели. ФТП, 31 (11), 1383 (1997)
- В.В. Мамутин, В.П. Улин, В.В. Третьяков, С.В. Иванов, С.Г. Конников, П.С. Копьев. Письма ЖТФ, 25 (1), 3 (1999)
- Ю.Н. Бузынин, С.А. Гусев, В.М. Данильцев, М.Н. Дроздов, Ю.Н. Дроздов, А.В. Мурель, О.И. Хрыкин, В.И. Шашакин. Письма ЖТФ, 26 (7), 64 (2000)
- А.И. Белогорохов, В.А. Караванский, А.Н. Образцов, В.Ю. Тимошенко. Письма ЖЭТФ, 60 (4), 262 (1994)
- A.I. Belogorokhov, Yu.A. Pusep, L.I. Belogorokhova. J. Phys.: Condens. Matter, 12, 3897 (2000)
- Ю.Н. Бузынин, С.А. Гусев, Ю.Н. Дроздов, А.В. Мурель. ЖТФ, 70 (5), 128 (2000)
- Е.А. Виноградов, И.И. Хаммадов. Спектроскопия объемных и поверхностных фононов кристаллов (Ташкент, Фан, 1989)
- R. Enderlein. Phys. Rev. B, 47, 2162 (1993)
- Ж. Панков. Оптические процессы в полупроводниках (М., Мир, 1973)
- A.V. Ghainer, G.I. Surdutovich. Phys. Rev. A, 50, 714 (1994)
- А.И. Белогорохов, Л.И. Белогорохова. ФТТ, 43 (9), 1693 (2001)
- S.-F. Ren, Z.-Q. Gu, D. Lu. Sol. St. Commun., 113, 273 (2000)
- M.A. Stroscio, K.W. Kim, M.A. Littlejohn, H. Chuang. Phys. Rev. B, 42 (2), 1488 (1990)
- Травление полупроводников, пер. с англ. под ред. С.Н. Горина (М., Мир, 1965)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.