Полярные оптические фононы в сверхрешетках Si/SiO2
РНФ, поддержки малых научных групп, 22-22-20021
Смирнов М.Б.1, Григорьева Н.Р.1, Панькин Д.В.1, Рогинский Е.М.2, Савин A.B.2
1Санкт-Петербургский государственный университет, Санкт-Петербург, Россия
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: n.r.grigorieva@spbu.ru
Поступила в редакцию: 26 декабря 2023 г.
В окончательной редакции: 20 января 2024 г.
Принята к печати: 20 января 2024 г.
Выставление онлайн: 9 апреля 2024 г.
Изучены диэлектрические свойства планарных гетероструктур Si/SiO2, играющих важную роль в современной электронике. С применением модели диэлектрического континуума исследованы спектры полярных оптических фононов в бинарных сверхрешетках Si/SiO2. В качестве структурной модели оксидного слоя рассмотрены решетки кварца и кристобалита. Получены зависимости частот полярных оптических фононов и значения элементов тензора высокочастотной диэлектрической проницаемости от отношения толщин слоев. Полученные результаты открывают возможность использования спектроскопических данных для характеризации структуры сверхрешеток. Ключевые слова: оксид-полупроводниковые гетероструктуры, сверхрешетки, компьютерное моделирование, модель диэлектрического континуума, колебательные спектры.
- S.T. Pantelides, S. Wang, A. Franceschetti, R. Buczko, M. Di Ventra, S.N. Rashkeev, L. Tsetseris, M.H. Evans, I.G. Batyrev, L.C. Feldman, S. Dhar, K. McDonald, R.A. Weller3 R.D. Schrimpf, D.M. Fleetwood, X.J. Zhou, J.R. Williams, C.C. Tin, G.Y. Chung, T. Isaacs-Smith, S.R. Wang, S.J. Pennycook, G. Duscher, K. van Benthem L.M. Porter. Mater. Sci. Forum, 527-529, 935 (2006)
- Z.H. Lu, D.J. Lockwood, J.-M. Baribeau. Nature, 378, 258 (1995)
- N. Liu, J. Sun, S. Pan, Z. Chen, W. Shi, R. Wang, X. Wang. Optics Commun., 176, 239 (2000)
- T. Zheng, Z. Li. Superlatt. Microstruct., 37, 227 (2005)
- S. Yamada, M. Konagai, S. Miyajima. Jpn. J. Appl. Phys., 55, 04ES06 (2016)
- V. Davydov, E. Roginskii, Yu. Kitaev, A. Smirnov, I. Eliseyev, D. Nechaev, V. Jmerik, M. Smirnov. Nanomaterials, 11, 286 (2021)
- M.B. Smirnov, D.V. Pankin, E.M. Roginskii, A.V. Savin. Phys. Solid State, 64, 1675 (2022)
- M. Smirnov, E. Roginskii, A. Savin, N. Mazhenov, D. Pankin. Coatings, 13, 1231 (2023)
- С.М. Рытов. ЖЭТФ, 29 (5), 605 (1955)
- K. Huang, B. Zhu. Phys. Rev. B, 38, 13377 (1988)
- J.-Z. Zhang, B.-F. Zhu, K. Huang. Phys. Rev. B, 59, 13184 (1998)
- J. Gleize, M.A. Renucci, J. Frandon, F. Demangeot. Phys. Rev. B, 60, 15985 (1999)
- S. Coh, D. Vanderbilt. Phys. Rev. B, 78, 054117 (2008)
- M. Smirnov, E. Roginskii, A. Savin, A. Oreshonkov, D. Pankin. Photonics, 10, 902 (2023)
- J.F. Scott, S.P.S. Porto. Phys. Rev. B, 161, 903 (1967)
- G. Ghosh. Optics Commun., 163, 95 (1999)
- H. H. Li. J. Phys. Chem. Ref. Data, 9, 561 (1980)
- R.E. Camley, D.L. Mills. Phys. Rev. B, 29, 1695 (1984)
- R. Ruppin, R. Englman. Rep. Progr. Phys., 33, 149 (1970)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.