Вышедшие номера
Температурная зависимость коэффициента теплового линейного расширения монокристаллического SmS
Каминский В.В.1, Лугуев С.М.2, Омаров З.М.2, Шаренкова Н.В.1, Голубков А.В.1, Васильев Л.Н.1, Соловьев С.М.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Институт физики Дагестанского научного центра Российской академии наук, Махачкала, Россия
Поступила в редакцию: 24 апреля 2006 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2006 г.

В температурном интервале 300-850 K измерена величина коэффициента теплового линейного расширения монокристаллического SmS. Измерения проведены параллельно дилатометрическим и рентгеновским методами. Показано, что различие результатов, полученных этими двумя методами, объясняется возникновением в результате нагрева фаз SmS с пониженной величиной параметра кристаллической решетки 5.62-5.8 Angstrem, близкой к таковой для металлического SmS. PACS: 65.40.De