Вышедшие номера
Диагностика гетероструктур с квантовыми ямами InxGa1-xAs/GaAs методом вольт-фарадных характеристик: разрывы зон, уровни квантования, волновые функции
Зубков В.И.1
1Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 4 сентября 2006 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2007 г.

В диапазоне составов псевдоморфного роста гетероструктур с квантовыми ямами InxGa1-xAs/GaAs (0<x<0.30) методом вольт-фарадного профилирования и самосогласованного расчета уравнений Шредингера и Пуассона прецизионно определены абсолютные величины разрывов зоны проводимости, уровни энергии размерного квантования, концентрации носителей заряда в подзонах квантования. Развит метод емкостной диагностики квантово-размерных гетероструктур для определения их основных электронных свойств. PACS: 68.65.Fg, 73.21.Fg, 73.40.Cg, 81.07.St