Инфракрасные спектры отражения многослойных эпитаксиальных гетероструктур с погруженными слоями InAs и GaAs
Середин П.В.1, Домашевская Э.П.1, Лукин А.Н.1, Арсентьев И.Н.2, Винокуров Д.А.2, Тарасов И.С.2
1Воронежский государственный университет, Воронеж, Россия
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 29 ноября 2007 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2008 г.
Исследовано влияние толщины погруженных InAs- и GaAs-слоев на инфракрасные спектры отражения колебаний решетки в многослойных эпитаксиальных гетероструктурах AlInAs/InAs/AlInAs, InGaAs/GaAs/InGaAs, AlInAs/InGaAs/GaAs/InGaAs/AlInAs, выращенных методом МОС-гидридной эпитаксии на подложках InP(100). Оценены относительные напряжения, возникающие в слоях, окружающах погруженные, при изменении числа монослоев, из которых формируются квантовые точки, а также при изменении толщины самих слоев, окружающих погруженные. PACS: 78.30.Fs, 78.67.Pt, 63.22.+m
- A. Madhukar et al. Appl. Phys. Lett., 64, 2727 (1994)
- F. Hatami et al. Appl. Phys. Lett., 67, 656 (1995)
- Д.А. Винокуров, В.А. Капитонов, Д.Н. Николаев и др. ФТП, 35 (2), 242 (2001)
- E.P. Domashevskaya, P.V. Seredin et al. Surf. Interf. Analysis, 38, 4 (2006)
- Ю.И. Уханов. Оптические свойства полупроводников (М., Наука, 1977)
- W.G. Spitzer, D. Kleiman, D. Walsh. Phys. Rev., 113, 1 (1959)
- H.W. Verleur. JOSA, 58, 1356 (1968)
- С.П. Козырев. ФТП, 36 (10), 3008 (1994)
- W.A. Harrison. Electronic Structure and the Properties of Solids, ed. by W.H. Freeman (San Francisco, 1980)
- Yu.A. Goldberg. In: Handbook Series on Semiconductor Parameters, ed. by M. Levinshtein, S. Rumyantsev and M. Shur (World Scientific, London, 1999) v. 2, p. 1
- Характеристики новых полупроводниковых материалов. http://www.ioffe.ru/SVA/NSM/Semicond/AlGaAs/basic.html
- U. Pusep et al. Письма ЖЭТФ, 52, 9 (1991).
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.