Оптическая диагностика поверхности наногетероструктур в процессе выращивания
Казаков И.П.1, Глазырин Е.В.1, Савинов С.А.1, Цехош В.И.1, Шмелёв С.С.1
1Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук, Москва, Россия
Поступила в редакцию: 8 апреля 2010 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2010 г.
Показано, что все этапы выращивания гетероструктур с ультратонкими слоями GaAs и AlAs толщиной в несколько монослоев могут эффективно контролироваться по измерениям отражения и анизотропного отражения in situ в реальном масштабе времени. Изменение состава слоев на прямых гетерограницах GaAs/AlAs активной области резонансно-туннельного диода зарегистрировано с разрешением по толщине на уровне одного монослоя. Получены резонансно-туннельные диоды с отношением "пик-долина" и плотностью пикового тока, равными 3.3 и 6.6·104 А/см2 соответственно.
- В.Л. Берковиц. Письма ЖЭТФ, 41, (1985)
- D.E. Aspnes, A.A. Studna. Phys. Rev. Lett., 54, 1956 (1985)
- F.G. Celii. J. Vac. Sci. Technol. A, 13 (3), 733 (1995)
- J.P. Harbison, D.E. Aspnes, A.A. Studna, L.T. Florez, M.K. Kelly. Appl. Phys. Lett., 52 (24), 2046 (1988)
- O. Hunderli, J.-T. Zettler, K. Haberland. Thin Sol. Films, 472 (1--2), 261 (2005)
- T.P.E. Broekaert, W. Lee, C.G. Fonstad. Appl. Phys. Lett., 53, 1545 (1988)
- A. Guill'en-Cervantes, Z. Rivera-Alvarez, M. L'opez-L'opez, E. L'opez-Luna, I. Hern'andez-Calder'on. Thin Sol. Films, 373, 159 (2000)
- T. Van Buuren, M.K. Weilmeier, I. Athwal, K.M. Colbow, J.A. Mackenzie, T. Tiedjea, P.C. Wong, K.A.R. Mitchell. Appl. Phys. Lett., 59 (4), 464 (1991)
- L.F. Lastras-Marti'nez, D. Ronnow, P.V. Santos, M. Cardona, K. Eberl. Phys. Rev. B, 64, 245 303 (2001)
- J.P. Silveira, F. Briones. J. Cryst. Growth, 201/202, 113 (1999)
- D.E. Aspnes, J.P. Harbison, A.A. Studna, L.T. Florez, M.K. Kelly, J. Vac. Sci. Technol. B, 6 (4), 1127 (1988)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.