Влияние электрического поля в слое объемного заряда на эффективность коротковолнового фотоэлектропреобразования в диодах Шоттки на основе арсенида галлия
Бланк Т.В.1, Гольдберг Ю.А.1, Константинов О.В.1, Оболенский О.И.1, Поссе Е.А.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 17 марта 1997 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 1997 г.
Экспериментально исследована зависимость квантовой эффективности коротковолнового фотоэффекта от приложенного обратного напряжения в диодах Шоттки на основе GaAs, когда длина поглощения света много меньше ширины области пространственного заряда. Обнаружена сильная зависимость квантовой эффективности фотоэлектропреобразования от величины контактного электрического поля и от энергии фотонов. Полевая зависимость квантовой эффективности объясняется в рамках модели флуктуационных ловушек. Эта модель позволяет также определить коэффициент потерь горячих фотоносителей, который, как оказалось, ступенчато растет с ростом энергии фотонов. Этот эффект объясняется образованием экситонов в X- и L-долинах полупроводника.
- Ю.А. Гольдберг, О.В. Константинов, О.И. Оболенский, Е.А. Поссе, Б.В. Царенков. ФТП, 31, 563 (1997)
- Ю.А. Гольдберг, О.В. Константинов, Е.А. Поссе, Б.В. Царенков. ФТП, 29, 421 (1995)
- А.А. Гуткин, М.В. Дмитриев, О.В. Миронова, Д.Н. Наследов. ФТП, 5, 385 (1971)
- Л.Н. Дмитрук, О.Ю. Борковская. Микроэлектроника, 8, 68 (1979)
- B.L. Smith, M. Abbott. Sol. St. Electron., 15, 361 (1972)
- Ю.А. Гольдберг, Т.В. Львова, Б.В. Царенков. ПТЭ, N 4, 212 (1976)
- Landolt-Burnstein. Numerical data and functional relationship in science and technology (Springer--Verlag, Berlin--Heidelberg--N.Y., 1982), v. 17 " Semiconductors", subvol. a " Phys. of group IV elem. and III--V compounds"
- Р.Ф. Казаринов, О.В. Константинов. ЖЭТФ, 40, 936 (1961)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.