Вышедшие номера
Туннельная спектроскопия атомов примесей в монокристаллической полупроводниковой матрице
Картавых А.В.1, Маслова Н.С.2, Панов В.И.2, Раков В.В.1, Савинов С.В.2
1Институт химических проблем микроэлектроники, Москва, Россия
2Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова (физический факультет), Москва, Россия
Поступила в редакцию: 28 июня 1999 г.
Выставление онлайн: 19 марта 2000 г.

Представлены результаты исследования атомов примесей, представляющих два важнейших класса (так называемые "мелкие" и "глубокие") в монокристаллической матрице полупроводников группы AIIIBV с целью определения возможностей и перспектив сканирующей туннельной микроскопии/спектроскопии для решения прикладных аналитических и технологических задач полупроводникового материаловедения.