Спектры глубоких уровней в слоях ZnTe : Cr2+, полученных эпитаксией из молекулярных пучков
Садофьев Ю.Г.1, Коршков М.В.2
1Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук, Москва, Россия
2Рязанская государственная радиотехническая академия, Рязань, Россия
Поступила в редакцию: 25 сентября 2001 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 2002 г.
Выращенные методом эпитаксии из молекулярных пучков на подложках GaAs (001) слои ZnTe : Cr2+, легированные хромом как из металлического источника, так и из соединения CrI3, исследованы методом токовой спектроскопии глубоких уровней. Спектры показали наличие глубокого уровня с энергией активации (1.09±0.03) эВ, связанного с центром, возникшим в результате перехода Cr2+-C+ под действием электрического поля. Легирование хромом из соединения CrI3 приводит к исчезновению ряда характерных для эпитаксиальных слоев ZnTe точечных дефектов, при этом уровень загрязнения выращиваемых пленок йодом значителен.
- L.D. De Loach, R.H. Page et al. IEEE J. Quant. Electron., 32, 885 (1996)
- G.J. Wagner, T.J. Carrig, R.H. Page, K.I. Schaffers, J.O. Ndap, X. Ma, A. Burger. Optics Lett., 24, 19 (1999)
- Yu.G. Sadofyev, V.F. Pevtsov, E.M. Dianov, P.A. Trubenko, M.V. Korshkov. 19th NA Conf. on MBE (Tempe, AZ, 2000) p. 42
- H. Tubota. J. Appl. Phys., 1, 259 (1973)
- C.B. Norris. J. Appl. Phys., 53, 5171 (1982)
- П.С. Киреев, А.Г. Корницкий, В.Н. Мартынов, Ю.В. Платонов, А.В. Ванюков. ФТП, 4, 900 (1970)
- M. Godlewsky, M. Kaminska. J. Phys. C: Sol. St. Phys., 13, 6537 (1980)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.