Низкочастотная диэлектрическая релаксация в стеклообразной системе Ge28.5Рb15S56.5 с примесью железа
Кастро Р.А.1, Грабко Г.И.2, Кононов А.А.1
1Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена, Санкт-Петербург, Россия
2Забайкальский государственный университет, Чита, Россия
Email: recastro@mail.ru
Поступила в редакцию: 11 декабря 2017 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2018 г.
Приведены результаты исследования процессов диэлектрической релаксации в стеклообразной системе Ge28.5Рb15S56.5. Введение примеси железа в матрицу стекла приводит к резкому увеличению значения диэлектрической проницаемости varepsilon' и уменьшению величины диэлектрических потерь tgdelta. Обнаруженные закономерности объясняются в рамках кластерной модели структуры (двухфазной модели) легированного стекла.
- D.I. Bletskan, V.M. Kabatsii. Open J. Inorganic Non-Metallic Mater., 3, 29 (2013)
- Y. Liu, R. Golovchak, W. Heffner, O. Shpotyuk, G. Chen, H. Jain. J. Mater. Chem. C, 1, 6677 (2013)
- A.K. Kukreti1, S. Gupta, M. Saxena, N. Rastogi. Int. J. Innovative Res. Science, Engin. Techn., 3, 89 (2016)
- R.A. Castro, S.A. Nemov, P.P. Seregin. Semiconductors, 40, 898 (2006)
- N.I. Anisimova, G.A. Bordovsky, V.A. Bordovsky, R.A. Castro. Rad. Eff. Def. Solids, 156, 359 (2002)
- R.A. Castro, F.S. Nasredinov. Glass Phys. Chem., 32, 412 (2006)
- G.A. Bordovskii, R.A. Castro. Glass Phys. Chem., 32, 315 (2006)
- K. Kremer, A. Schonhals. Broadband dielectric spectroscopy (Springer, Berlin Heidelberg, 2003)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.