Физика и техника полупроводников

Авторам

Правила оформления публикаций

Вышедшие номера

2024
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2023
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9
2022
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2021
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2020
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2019
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2018
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13
2017
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2016
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2015
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2014
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2013
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2012
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2011
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2010
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2009
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2008
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2007
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2006
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2005
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2004
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2003
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2002
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2001
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2000
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1999
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1998
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1997
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1996
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1995
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1994
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1993
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1992
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1991
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1990
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1989
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1988
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Установка по измерению термоэлектрических свойств ультратонких проволок

DOI: 10.21883/FTP.2019.05.47567.25

Переводная версия: 10.1134/S1063782619050270

Урюпин О.Н.¹, Шабалдин А.А.¹

¹Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия Ioffe Institute, St. Petersburg, Russia

Email: О.uryupin@mail.ioffe.ru

Поступила в редакцию: 20 декабря 2018 г.

Выставление онлайн: 19 апреля 2019 г.

PDF версия

Абстракт
Литература
Статистика просмотров

Создана экспериментальная установка для измерения термоэлектрических свойств полупроводниковых нанопроволок диаметром до 5 нм в диэлектрических матрицах. Установка позволяет измерять электросопротивление и термоэдс наноструктурированных образцов в диапазоне температур 77-400 K.

R. Venkatasubramanian, E. Siivola, T. Colpitts, B. O'Quinn. Nature, 413, 597 (2001)
T.C. Harman, P.J. Taylor, M.P. Walsh, B.E. LaForge. Science, 297, 2229 (2002)
T.C. Harman, M.P. Walsh, B.E. LaForge, G.W. Turner. J. Electron. Mater., 34, L19 (2005)
Y. Kumzerov, S. Vakhrushev. In: Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnology, ed. by H.S. Nalwa (American Scientific Publishers, Los Angeles, 2004) v. 7, p. 811
D. Enke, F. Janowski, W. Schwieger. Microporous and Mesoporous Mater., 60, 19 (2003)
P. Hofmann. Prog. Surf. Sci., 81, 191 (2006)
P. Levitz, G. Ehret, S.K. Sinha, J.M. Drake. J. Chem. Phys., 95, 6151 (1991)
M.S. Ivanova, Y.A. Kumzerov, V.V. Poborchii, Y.V. Ulashkevich, V.V. Zhuravlev. J. Microporous Mater., 4, 319 ( 1995)
S.V. Zaitsev-Zotov, Yu.A. Kumzerov, Yu.A. Firsov, P. Monceau. J. Phys.: Condens. Matter, 12, L303 (2000)
M. Bryushinin, V. Golubev, Y. Kumzerov, D. Kurdyukov, I. Sokolov. Appl. Phys. B, 95, 489 (2009)
T.E. Huber, M.J. Graf. Phys. Rev. B, 60, 16800 (1999)
E. Slot, M.A. Holst, H.S.J. van der Zant, S.V. Zaitsev-Zotov. Phys. Rev. Lett., 93, 176602 (2004),
S.V. Zaitsev-Zotov, V.Ya. Pokrovskii, P. Monso. JETP Lett., 73 (1), 29 (2001)
C.L Kane, M.P.A. Fisher. Phys. Rev. Lett., 76, 3192 (1996)
I.A. Romanovsky, I.V. Krive, V. Bogachek, U. Landman. Phys. Rev. B, 65, 075115 (2002)
O.N. Uryupin, A.A. Shabaldin. Semiconductors, 51, 733 (2017)
L.D. Ivanova, V.V. Molokanov, A.V. Krutilin, P.P. Umnov, N.V. Umnova, O.N. Uryupin, A.A. Shabaldin. J. Thermoelectricity, 4, 43 (2013)
F.Yu. Solomkin, V.K. Zaitsev, N.F. Kartenko, A.S. Kolosova, A.T. Burkov, O.N. Uryupin, A.A. Shabaldin. Tech. Phys., 55, 750 (2010).
D.K. Ivanov, K.G. Ivanov, O.N. Uryupin. Semiconductors, 51, 834 (2017)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель