Оценка вклада поверхностной рекомбинации в микродисковых лазерах с помощью высокочастотной модуляции
		
	
Жуков А.Е.
 1,2
1,2, Моисеев Э.И.
1, Крыжановская Н.В.
1,2, Блохин С.А.
 3
3, Кулагина М.М.
3, Гусева Ю.А.
3, Минтаиров С.А.
3,1, Калюжный Н.А.
3,1, Можаров А.М.
1, Зубов Ф.И.
1, Максимов М.В.
11Санкт-Петербургский национальный исследовательский Академический университет имени Ж.И. Алфёрова Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия 
 2
2Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Санкт-Петербург, Россия 
 3
3Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия 

 Email: zhukale@gmail.com, Blokh@mail.ioffe.ru
 
	Поступила в редакцию: 11 марта 2019 г.
		
	Выставление онлайн: 20 июля 2019 г.
Исследованы микродисковые лазеры диаметром 10-30 мкм, работающие при комнатной температуре без термостабилизации, с активной областью на основе наноструктур гибридной размерности - квантовых ям-точек. Выполнены высокочастотные измерения отклика микролазеров в режиме прямой малосигнальной модуляции, с помощью которых установлены параметры быстродействия и проведен их анализ в зависимости от диаметра микролазера. Обнаружено, что K-фактор составляет (0.8±0.2) нс, что соответствует оптическим потерям ~ 6 см-1, и при этом не наблюдается регулярная зависимость от диаметра. Обнаружено, что низкочастотная компонента коэффициента затухания релаксационных колебаний обратно пропорциональна диаметру. Такой характер зависимости свидетельствует об уменьшении времени жизни носителей заряда в микрорезонаторах малого диаметра, что может быть связано с преобладанием в них безызлучательной рекомбинации на боковых стенках. Ключевые слова: микрорезонатор, микролазер, поверхностная рекомбинация, высокочастотная модуляция. 
- M.-H. Mao, H.-C. Chien, J.-Z. Hong, C.-Y. Cheng. Opt. Express, 19, 14145 (2011)
- N.V. Kryzhanovskaya, E.I. Moiseev, Yu.V. Kudashova, F.I. Zubov, A.A. Lipovskii, M.M. Kulagina, S.I. Troshkov, Yu.M. Zadiranov, D.A. Livshits, M.V. Maximov, A.E. Zhukov. Electron. Lett., 51, 1354 (2015)
- A.F.J. Levi, R.E. Slusher, S.L. Mc Call, T. Tanbun-Ek, D.L. Coblentz, S.J. Pearton. Electron. Lett., 28, 1011 (1992)
- A.K. Sokol, R.P. Sarzala. Optica Applicata, 43, 325 (2013)
- A. Fiore, M. Rossetti, B. Alloing, C. Paranthoen, J.X. Chen, L. Geelhaar, H. Riechert. Phys. Rev. B, 70, 205311 (2004)
- S.A. Mintairov, N.A. Kalyuzhnyy, V.M. Lantratov, M.V. Maximov, A.M. Nadtochiy, S. Rouvimov, A.E. Zhukov. Nanotechnology, 26, 385202 (2015)
- E. Moiseev, N. Kryzhanovskaya, M. Maximov, F. Zubov, A. Nadtochiy, M. Kulagina, Yu. Zadiranov, N. Kalyuzhnyy, S. Mintairov, A. Zhukov. Optics. Lett., 43, 4554 (2018)
- A.E. Zhukov, N.V. Kryzhanovskaya, M.V. Maximov. Int. Conf. "Frontiers of 21st Century Physics and Ioffe Institute" (St. Petersburg, Russia, 2018) p. 33
- L.A. Coldren, S.W. Corzine, M.L. Masanovic. Diode Lasers and Photonic Integrated Circuits, 2nd edn (N. Y., Wiley, 2012)
- R. Nagarajan, T. Fukushima, M. Ishikawa, J.E. Bowers, R.S. Geels, L.A. Coldren. IEEE Photon. Technol. Lett., 4, 121 (1992)
- R.E. Slusher, A.F.J. Levi, U. Mohideen, S.L. Mc Call, S.J. Pearton, R.A. Logan. Appl. Phys. Lett., 63, 1310 (1993)
- M. Borselli, T.J. Johnson, O. Painter. Opt. Express, 13, 1515 (2005)
- E. Kapon. Semiconductor Lasers I: Fundamentals (San Diego, Academic Press, 1999)
- R. Nagarajan, M. Ishikawa, T. Fukushima, R.S. Geels, J.E. Bowers. IEEE J. Quant. Electron., 28, 1990 (1992)
- H. Su, L.F. Lester. J. Phys. D: Appl. Phys., 38, 2112 (2005)
- Н.В. Крыжановская, М.В. Максимов, С.А. Блохин, М.А. Бобров, М.М. Кулагина, С.И. Трошков, Ю.М. Задиранов, А.А. Липовский, Э.И. Моисеев, Ю.В. Кудашова, Д.А. Лившиц, В.М. Устинов, А.Е. Жуков. ФТП, 50, 393 (2016)
		
			Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
		
		
			Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.