Вышедшие номера
Фотоприемники ультрафиолетового излучения на основе структур металл--широкозонный полупроводник
Бланк Т.В.1, Гольдберг Ю.А.1, Калинина Е.В.1, Константинов О.В.1, Поссе Е.А.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 3 февраля 2003 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2003 г.

В последнее время большое внимание уделяется измерению и контролю ультрафиолетового излучения Солнца и искусственных источников. Мы представляем фотодетекторы на основе различных широкозонных поверхностно-барьерных структур, которые имеют линейную характеристику плотность потока излучения-фототок в диапазоне 10-2-103 Вт / м2 и позволяют регистрировать разные типы ультрафиолетового излучения. Так, фотодетекторы на основе GaP при использовании фильтра УФС-6 имеют диапазон спектральной фоточувствительности, соответствующий ультрафиолетовому излучению Солнца, регистрируемому на поверхности Земли. 4H-SiC-поверхностно-барьерные фотоприемники имеют диапазон спектральной фоточувствительности, соответствующий спектральной кривой бактерицидного воздействия ультрафиолетового излучения. Для объяснения процесса коротковолнового фотоэлектропреобразования в этих структурах разработана модель, согласно которой фотоэлектроны и фотодырки могут связываться в горячие экситоны и исключаться из процесса фотоэлектропреобразования. Экспериментально установленный факт роста квантовой эффективности с температурой для фотодетекторов на основе барьеров Шоттки объясняется захватом фотоносителей в ловушки, обусловленные флуктуациями дна зоны проводимости и потока валентной зоны, с последующей термодиссоциацией. Эти флуктуации связаны с несовершенствами в приповерхностной области полупроводника, что подтверждается независимостью квантовой эффективности фотодетекторов на основе p-n-структур от температуры.