Влияние оптических фононов на гашение фотолюминесценции вакансий ртути в узкозонных твердых растворах HgСdTe при повышении температуры
Козлов Д.В.1,2, Румянцев В.В.1,2, Алешкин В.Я.1,2, Морозов С.В.1,2, Гавриленко В.И.1,2
1Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия
2Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
Email: dvkoz@ipmras.ru
Поступила в редакцию: 1 ноября 2022 г.
В окончательной редакции: 8 ноября 2022 г.
Принята к печати: 8 ноября 2022 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2022 г.
Рассчитаны времена захвата дырок на основной уровень нейтральной вакансии ртути в твердом растворе Hg1-xСdxTe при испускании оптического фонона. Расчет показал, что этот процесс может конкурировать с захватом дырок на мелкие возбужденные состояния вакансионных центров с испусканием акустических фононов. Такая конкуренция может приводить к гашению линий в спектре вакансионной фотолюминесценции слоев Hg1-xСdxTe при увеличении температуры. Ключевые слова: вакансии ртути, оптические фононы, безызлучательные переходы.
- Rogalski. Rep. Progr. Phys., 68 (10), 2267 (2005)
- W. Lei, J. Antoszewski, L. Faraone. Appl. Phys. Rev., 2 (4), 041303 (2015)
- S. Ruffenach, A. Kadykov, V.V. Rumyantsev, J. Torres, D. Coquillat, D. But, S.S. Krishtopenko, C. Consejo, W. Knap, S. Winnerl, M. Helm, M.A. Fadeev, N.N. Mikhailov, S.A. Dvoretskii, V.I. Gavrilenko, S.V. Morozov, F. Teppe. APL Materials, 5 (3), 035503-1 (2017)
- F. Gemain, I.C. Robin, M. De Vita, S. Brochen, A. Lusson. Appl. Phys. Lett., 98 (13), 131901 (2011).
- B. Li, Y. Gui, Z. Chen, H. Ye, J. Chu, S. Wang, R. Ji, L. He. Appl. Phys. Lett., 73 (11), 1538 (1998)
- T. Sasaki, N. Oda M. Kawano, S. Sone, T. Kanno, M. Saga. J. Cryst. Growth, 117 (1--4), 222 (1992)
- K.D. Mynbaev, S.V. Zablotsky, A.V. Shilyaev, N.L. Bazhenov, M.V. Yakushev, D.V. Marin, V.S. Varavin, S.A. Dvoretsky. Semiconductors, 50 (2), 208 (2016)
- J. Shao, X. Lu, S. Guo, W. Lu, L. Chen, Y. Wei, J. Yang, L. He, J. Chu. Phys. Rev. B, 80 (15), 155125 (2009)
- X. Zhang, J. Shao, L. Chen, X. Lu, S. Guo, L. He, J. Chu. J. Appl. Phys., 110 (4), 043503 (2011)
- A.V. Andrianov, A.O. Zakhar'in, Y.L. Ivanov, M.S. Kipa. JETP Lett., 91 (2), 96 (2010)
- Д.А. Фирсов, Л.Е. Воробьев, В.Ю. Паневин, А.Н. Софронов, Р.М. Балагула, И.С. Махов, Д.В. Козлов, А.П. Васильев. ФТП, 49 (1), 30 (2015)
- Д.В. Козлов, В.В. Румянцев, А.М. Кадыков, М.А. Фадеев, Н.С. Куликов, В.В. Уточкин, Н.Н. Михайлов, С.А. Дворецкий, В.И. Гавриленко, Х.-В. Хюберс, Ф. Теппе, С.В. Морозов. Письма ЖЭТФ, 109 (10), 679 (2019)
- Д.В. Козлов, В.В. Румянцев, С.В. Морозов, А.М. Кадыков, М.А. Фадеев, М.С. Жолудев, В.С. Варавин, Н.Н. Михайлов, С.А. Дворецкий, В.И. Гавриленко, F. Terre. ЖЭТФ, 154 (6), 1226 (2018)
- D.V. Kozlov, V.V. Rumyantsev, A.V. Ikonnikov, V.V. Utochkin, A.A. Razova, K.A. Mazhukina, N.N. Mikhailov, S.A. Dvoretsky, S.V. Morozov, V.I. Gavrilenko. Photonics, 9 (12), 887 (2022). https://doi.org/10.3390/photonics9120887
- D.N. Talwar, M. Vandevyver. J. Appl. Phys., 56 (6), 1601 (1984)
- В.Ф. Гантмахер, И.Б. Левинсон. Рассеяние носителей тока в металлах и полупроводниках (М., Наука, 1984)
- E.G. Novik, A. Pfeuffer-Jeschke, T. Jungwirth, V. Latussek, C.R. Becker, G. Landwehr, H. Buhmann, L.W. Molenkamp. Phys. Rev. B, 72 (3), 035321 (2005)
- V.V. Rumyantsev, D.V. Kozlov, S.V. Morozov, M.A. Fadeev, A.M. Kadykov, F. Teppe, V.S. Varavin, M.V. Yakushev, N.N. Mikhailov, S.A. Dvoretskii, V.I. Gavrilenko. Semicond. Sci. Technol., 32 (9), 095007 (2017)
- O. Madelung. Semiconductors: Data Handbook (Springer, 2004) p. 506
- M.S. Kushwaha, S.S. Kushwaha. Canadian J. Phys., 58 (3), 351 (1980)
- В.В. Румянцев, А.В. Иконников, А.В. Антонов, С.В. Морозов, М.С. Жолудев, К.Е. Спирин, В.И. Гавриленко, С.А. Дворецкий, Н.Н. Михайлов. ФТП, 47 (11), 1446 (2013)
- Г. Бете, Э. Солпитер. Квантовая механика атомов с одним и двумя электронами (М., Физматлит, 1960).
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.