Вышедшие номера
Дислокационная структура индентированных объемных кристаллов AlN
Вывенко О.Ф. 1, Гогина О.А.1,2, Петров Ю.В.1,2, Убыйвовк Е.В.1,2, Аргунова Т.С. 3, Нагалюк С.С. 2
1Санкт-Петербургский государственный университет, Санкт-Петербург, Россия
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
3Ioffe Institute, Russian Academy of Sciences, St. Petersburg, Russia
Email: oleg.vyvenko@spbu.ru, o_gogina@mail.ru, argunova@mail.ioffe.ru, siclab@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 5 мая 2025 г.
В окончательной редакции: 28 июля 2025 г.
Принята к печати: 28 июля 2025 г.
Выставление онлайн: 24 сентября 2025 г.

Приведены результаты катодолюминесцентных исследований дефектной структуры, созданной индентированием базисной и призматической поверхности малодислокационных объемных кристаллов нитрида алюминия, а также нитрида галлия. Впервые установлено, что дислокационная структура в приповерхностной области вблизи отпечатка индентора в AlN качественно отличается от хорошо известной для других полупроводников со структурой вюрцита и хорошо объяснимой моделью Пайерлса. Сделано заключение о неприменимости этой модели для характеризации динамики дислокаций в AlN и необходимости разработки для этого новых теоретических подходов. Ключевые слова: нитрид алюминия, дислокации, катодолюминесценция.
  1. R. Yu, G. Liu, G. Wang, C. Chen, M. Xu, H. Zhou, T. Wang, J. Yu, G. Zhao, L. Zhang. J. Mater. Chem. C, 9, 1852 (2021)
  2. H. Amano, R. Colllazo, C. De Santi, S. Einfeldt, M. Funato, J. Glaab, S. Hagedorn, A. Hirano, H. Hirayama, R. Ishii, Y. Kashima, Y. Kawakami, R. Kirste, M. Kneissl, R. Marti et al. J. Phys. D: Appl. Phys., 53 (50), 503001 (2020)
  3. O. Vyvenko, A. Bondarenko. Crystal Lattice Defects as Natural Light Emitting Nanostructures in Semiconductors, in Progress in Photon Science: Recent Advances, ed. by K. Yamanouchi, S. Tunik, and V. Makarov (Springer International Publishing, Cham, 2019) p. 405
  4. P. Kavouras, I. Ratschinski, G.P. Dimitrakopulos, H.S. Leipner, Ph. Komninou, G. Leibiger, F. Habel. Mater. Sci. Technol., 34, 1531 (2018)
  5. P. Delavignette, H.B. Kirkpatrick, S. Amelinckx. J. Appl. Phys., 32, 1098 (1961)
  6. M. Azzaz, J.P. Michel, V. Feregotto, A. George. Mater. Sci. Eng. B, 71, 30 (2000)
  7. I. Yonenaga, T. Shima, M.H.F. Sluiter. Jpn. J. Appl. Phys., 41, 4620 (2002)
  8. Y. Tokumoto, K. Kutsukake, Y. Ohno, I. Yonenaga. J. Appl. Phys., 112, 093526 (2012)
  9. J. Chen, K. Chen, X. Su, M. Niu, Q. Wang, K. Xu. Thin Sol. Films, 791, 140240 (2024)
  10. Е.Н. Мохов, А.А. Вольфсон, О.П. Казарова. ФТТ, 61, 2298 (2019)
  11. O. Medvedev, O. Vyvenko, E. Ubyivovk, S. Shapenkov, A. Bondarenko, P. Saring, M. Seibt. J. Appl. Phys., 123, 161427 (2018)
  12. I. Ratschinski, H.S. Leipner, F. Heyroth, W. Franzel, R. Hammer, M. Jurisch. Phys. Status Solidi C, 8, 1325 (2011)
  13. Yu.A. Osipiyan, I.S. Smirnova. Phys. Status Solidi B, 30, 19 (1968)
  14. Электронные свойства дислокаций в полупроводниках, под ред. Ю.А. Осипьяна (М., Эдиториал УРСС, 2000)
  15. Yu.A. Osipyan, I.S. Smirnova. J. Phys. Chem. Solids, 32, 1521 (1971)
  16. Д. Хирт, И. Лоте. Теория дислокаций (М., Атомиздат, 1972)
  17. A.F. Wright. J. Appl. Phys., 82, 5259 (1997)
  18. K. Suzuki, M. Ichihara, S. Takeuchi. Jpn. J. Appl. Phys., 33, 1114 (1994)
  19. C. Stampfl, C.G. Van de Walle. Phys. Rev. B, 57, R15052 (1998)
  20. J.E. Northrup. Appl. Phys. Lett., 86 (2005)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.