Влияние оже-рекомбинации на тепловую стабильность мощных высоковольтных полупроводниковых диодов
Мнацаканов Т.Т.1, Левинштейн М.Е.2, Фрейдлин А.С.1
1Всероссийский электротехнический институт им. В.И. Ленина, Москва, Россия
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 17 апреля 2007 г.
Выставление онлайн: 20 января 2008 г.
Предложена аналитическая модель, позволяющая учесть влияние оже-рекомбинации на положение точек инверсии на вольт-амперной характеристике высоковольтных полупроводниковых диодов. Показано, что оже-рекомбинация не только изменяет положение точек инверсии на вольт-амперных характеристиках диодов, но также меняет число возможных точек инверсии в структурах. Поскольку существование и положение точек инверсии в значительной мере определяют тепловую стабильность диодов, особенно в режиме ударных токов, предсказания модели представляются важными с практической точки зрения. Для проверки выводов аналитической модели проведен численный эксперимент с помощью программы "Исследование". Результаты численных расчетов полностью согласуются с выводами аналитической модели. PACS: 65.40.-b, 85.30.De, 85.30.Kk
- S.M. Sze. Physics of Semiconductor devices (N.Y., Wiley, 1981)
- M.S. Shur. Physics of Semiconductor devices (Englewood Cliffs, NJ, Prentice-Hall, 1990)
- B.J. Baliga. Modern Power Devices (N.Y., Wiley-Interscience, 1987).
- В.П. Григоренко, П.Г. Дерменжи, В.А. Кузьмин, Т.Т. Мнацаканов. Моделирование и автоматизация проектирования силовых полупроводниковых приборов (М., Энергоатомиздат, 1988)
- T.T. Mnatsakanov, M.E. Levinshtein, A.S. Freidlin, J.W. Palmour. Semicond. Sci. Technol., 21, 1244 (2006)
- M.E. Levinshtein, T.T. Mnatsakanov, P.A. Ivanov, R. Singh, J.W. Palmour, S.N. Yurkov. Sol. St. Electron., 48, 807 (2004)
- P.A. Ivanov, M.E. Levinshtein, T.T. Mnatsakanov, J.W. Palmour, R. Singh, K.G. Irvin, M. Das. Mater. Sci. Forum, 483--485, 973 (2005)
- P.A. Ivanov, M.E. Levinshtein, J.W. Palmour, M.K. Das, B.A. Hull. Sol. St. Electron., 50 (7--8), 1368 (2006)
- L.V. Davies. Nature. 194, 762 (1968)
- Б.Н. Грессеров, Т.Т. Мнацаканов. ФТП, 24, 1668 (1990)
- T.T. Mnatsakanov, M.E. Levinshtein, P.A. Ivanov, J.W. Palmour, A.G. Tandoev, S.N. Yurkov. J. Appl. Phys., 93, 1095 (2003)
- Т.Т. Мнацаканов, Л.И. Поморцева. ФТП, 16, 798 (1982)
- T.T. Mnatsakanov, L.I. Pomoptseva, V.B. Shuman. Sol. St. Electron., 41, 1871 (1997)
- T.T. Mnatsakanov, I.L. Rostovtsev, N.I. Philatov. Sol. St. Electron., 30, 579 (1987)
- Т.Т. Мнацаканов, И.Л. Ростовцев, Н.И. Филатов. ФТП, 18, 1293 (1984)
- T.T. Mnatsakanov. Phys. Status Solidi B, 143, 225 (1987)
- M.E. Levinshtein, T.T. Mnatsakanov. IEEE Trans. Electron. Dev., 49, 702 (2002)
- П.А. Иванов, М.Е. Левинштейн, Т.Т. Мнацаканов, J.W. Palmour, A.K. Agarwal. ФТП, 39, 897 (2005)
- M.E. Levinshtein, S.L. Rumyantsev, T.T. Mnatsakanov, A.K. Agarwal, J.W. Palmour. In: SiC Materials and Devices, ed. by M.S. Shur, S.L. Rumyantsev and M.E. Levinshtein (Singapore, World Scientific, 2006) v. 1, p. 227
- В.А. Кузьмин, Т.Т. Мнацаканов, В.Б. Шуман. Письма ЖТФ, 6, 689 (1980)
- Т.Т. Мнацаканов, М.Е. Левинштейн, Л.И. Поморцева, С.Н. Юрков. ФТП, 38, 56 (2004)
- P.T. Landsberg, G.S. Kousik. J. Appl. Phys., 56, 1696 (1984)
- Расчет силовых полупроводниковых приборов, под ред. В.А. Кузьмина (М., Энергия, 1980)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.