Электронографическое исследование параметров ближнего порядка в аморфных пленках Yb1-xSmxAs2S4
Гаджиев Э.Ш.1, Мададзаде А.И.1
1Институт физики Азербайджанской национальной академии наук Az Баку, Азербайджан
Поступила в редакцию: 8 августа 2007 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 2008 г.
Получена кривая интенсивности рассеяния электронов в зависимости от угла рассеяния для аморфных пленок Yb1-xSmxAs2S4. Построена кривая радиального распределения атомов. Определены радиусы координационных сфер и парциальные координационные числа атомов в Yb1-xSmxAs2S4. PACS: 61.43.Dq
- И.В. Золотухин. Физические свойства аморфных металлических материалов (М., Металлургия, 1986)
- П.Г. Рустамов, О.М. Алиев, Т.Х. Курбанов. Тройные халькогениды редкоземельных элементов (Баку, Элм, 1981)
- В.И. Балакший, В.И. Парыгин, Л.Е. Чирков. Физические основы акустооптики (М., Радио и связь, 1985)
- А.Ф. Скрышевски. Структурный анализ жидкостей и аморфных тел (М., Высш. шк., 1980)
- T.G. Efendiyev, E.Sh. Hajiyev. In: XXV Int. Conf. on Physics of Semicond. (Osaka, Japan, 2000).
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук